射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 >b0e"eGt  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 c|Nv^V*2  
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技术参数 lFD$Mc  

波长范围 J%;TK6	5-20 ?(!$vqS`f(	10-60 #oi4!%*M	25-80 }{S W~yW
光源距离（m） 5sx-u!7	H.Z:at5n	0.4-0.6 _'dsEF	0.5-1.5 3Cwqy#X#8
平场尺寸（mm） K,^{|5'3q	25.4 h8O[xca/~	50 >0SF79-RE	50 8Hs>+Udl
色散(nm/mm) Vrf` :%	0.5-0.7 q'M-a tE.	0.7-1.1 'd1E~A	0.9-1.3 q0w5ADd
光谱分辨率（nm） NQ{ XIN~	0.06 nKh._bvfX	0.09 :*6tbUp	0.11 DCmNxN
*#frbV?;	HH2*12e	W<B8PS$	>u~ [{(d ,
升级波长范围 Cfb/f]*M	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) *n2Q_o
探测器选择 z(3mhMJY	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 EH]5ZZ[Z
光栅台 W==HV0n	电控 =6q?XOM
工作环境 ,$sq]_t	<10-6mbar * "ER8\
操作性 FymA_Eq	极易安装使用，用户自己即可安装使用 =2)5_/9au

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技术优势介绍： us4.-L  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 5}~*,_J2Z  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 Y+V*$73`  
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-平场成像技术 1U~AupHE  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 Nj.(iBmr  
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紧凑/模块化 )~O{jd  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） i,S%:0c7)  
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结实耐用无需准直 Rmn|"ZK  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 HQaKG4Z  
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- 定制化 Zo;@StN3}T  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 }`IN5NdYp  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 @o44b!i  
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典型客户： R/b)hP~  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) -d%bc?  
   
2. Los Alamos Z,,Da|edH  
   
3. Max Planck Institute 
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