世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek

世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 <.6rl  
hIJtu;}zU  
可测参数： M^o_='\bE  
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) 8:,($a/KF  
2）反射率R和透射率T ).SJ*Re*^I  
3）折射率n和吸收系数k %F;B
L8d
  
4）能带间隙 Dr3_MWJ+  
5）表面粗糙度和损伤度 ZZY#.  
6）成份和结晶程度 vYed_'_  
bhqSqU}6~  
适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 .[Sis<A]%  
MiT0!
6Pg  
联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 'ToE Y3  
s#9q3JV0  
emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225