世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek

世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 /7Q|D sa  
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可测参数： EE/mxN(<  
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) ']]
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2）反射率R和透射率T nB[-KS  
3）折射率n和吸收系数k ,Kit@`P%  
4）能带间隙 =bVPHrKNQ  
5）表面粗糙度和损伤度 .
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6）成份和结晶程度 vqf$("  
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 4E'9;tA3l  
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联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 I`>U#x*  
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225