世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek

世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 SrvC34<7  
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可测参数： [F^j(
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1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) ;#dzw!+Y  
2）反射率R和透射率T ' "o2;J)7  
3）折射率n和吸收系数k iaQ3mk#  
4）能带间隙 >m`<AynJ  
5）表面粗糙度和损伤度 !u%XvxJwDb  
6）成份和结晶程度 !MD uj  
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 q<Wz9lDMNR  
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联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 #}nDX4jI  
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225