Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         `Hx
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 &)F*@C-  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 Uh1NO&i.W  
特点： CWo1.pVw  
高分辨率（400*300） rZPT89M6  
消色差功能 %6%<?jZ  
测量可重复性高 `fXyWrz-k  
对振动不敏感 )3<:tV8  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 g?v\!/~(u  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） Z
Sy?T  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

AwUi+|7r])   型号	3VnQnd E   采样数	gwd (N   感光尺寸（mm²）	rx"s!y{!-   精度/动态范围	b IW'c_ ,   光谱范围	ma$Prd   采样速率
nz1'?_5   SID4	#3=P4FUz.   120×160	2f`nMW   3.6×4.8	DmVP   10nm RMS/100μm	}ov&.,vQ   350-1100nm	]'~vI/p   60fps
B\*@krI@   SID4UV-HR	|tzg:T;   250×250	)&{K~i;:   8.0×8.0	{4aWR><   10nm RMS/200μm	6pOx'u>h+   190-400nm	)QagS.L{z   30fps
z\ss4   SID4 NIR	88"Sai   120×160	g @I6$Z   3.6×4.8	U!%!m'   15nm RMS/100μm	V(MFna)   1500-1600nm	:HxA`@Ok   60fps
9vNkZ-1   SID4-HR	Rv,JU6>i   300×400	EVX{ 7%   8.9×11.8	ajRSMcKb7i   10nm RMS/500μm	W>(/ bX   400-1100nm	Cp`j/rF   10fps
9z;HsUv   SID4 DWIR	-V"22sR]   72×96	'1fNBH2   10.08×13.44	t%zpNd2lk   75nm RMS	_sE#)@p   3-5μm&8-14μm	depYqYK7G   50fps
]9=h%5Ji>   SID4 BIO	AB Xl   300×400	{y]mk?j   8.9×11.8	zOEY6lAwI   500μm	^ 5VK>   350-1100nm	q{2I_[p   10Hz