Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         @1DX  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 ?pn}s]*/  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 >TQH|}|6(y  
特点： i?fOK_d
 
高分辨率（400*300） {_S}H1,  
消色差功能 0KGY\,ae:;  
测量可重复性高 WAn~+=Ax  
对振动不敏感 r6&54f  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 UEozAY  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） P?t"jKp'  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

M#~Cc~oT   型号	NGOqy+Ty{f   采样数	2I&o69x?   感光尺寸（mm²）	SQqD:{#g"   精度/动态范围	1RK=,Wx   光谱范围	6xZ=^;H   采样速率
|b*? qf   SID4	:_t}QP"   120×160	U2`'qsR1   3.6×4.8	G3rj`Sg^c   10nm RMS/100μm	IRn2|   350-1100nm	rFC" Jx   60fps
:'* DPB-   SID4UV-HR	!!Aj<*%   250×250	< V\I~;   8.0×8.0	{%IExPJ   10nm RMS/200μm	^NX"sM0g   190-400nm	{W]=~*w   30fps
'A:x/iv}^   SID4 NIR	z}{afEb   120×160	x-?{E    3.6×4.8	tl><"6AIP   15nm RMS/100μm	"dI;   1500-1600nm	YhY :~   60fps
>2< 8kBF_   SID4-HR	:%sXO   300×400	8Goh4T H   8.9×11.8	jLpc Zb,   10nm RMS/500μm	6e_dJ=_   400-1100nm	~t^eiyv   10fps
2D:fJ~|-[   SID4 DWIR	C&6IU8l\   72×96	ed:@C?   10.08×13.44	e'=MQ,EWd   75nm RMS	5vw{b ?   3-5μm&8-14μm	<0S,Q+&   50fps
h;-yU.(w   SID4 BIO	dlG=Vq&Y   300×400	Wd nIp!   8.9×11.8	ZeEWp3vW   500μm	"h|'}7p   350-1100nm	OX"j#   10Hz