原厂认证系列~TracePro于杂散光分析与宏语言应用[北京6月]

TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 cmwzKu%  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象，并在课程中引入基本的TracePro Macro Bpk@{E9  
Scheme Language，让您可以藉由撰写Macro Scheme 程序，轻松建立属于您的自动化杂散光分析程序。 2neF<H?^o  
此训练课程通过Lambda Research Corp.原厂认证，全程采用一人一机、实机操作的方式进行，并会有资深工程师随堂提供及时的协助，帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。课程中除了介绍如何使用TracePro 完成杂散光分析之外，并授以如何使用TracePro 所提供的宏程序语言完成自动化杂散光分析。本课程全程采用小班教学，互动性佳，轻松学习，同时为您解决使用仿真软件时所遭遇到困难。课程内容精彩丰富，并教材多取自实际案例，相信透过深入浅出的教学方式，必定能让您完全掌握杂散光分析的技巧并且使其自动化进行分析。 *,O :>Z5I  
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时间

内容

09:00~16:00 2E@C0HaL

1.           简介使用 TracePro®分析系统杂散光 V-?sek{;   2.           Point Source Transmittance (PST) 分析 J0IdFFZ|w   3.           杂散光系统之测试光源设定 %Nwyx;>9^K   4.           使用重点取样(Importance Sampling)加速杂散光分析 EpFI KV!   5.           自动重点取样(Auto Importance Sampling) t!J";l   6.           TracePro®之各项分析工具与其参数设定 &*jxI[   7.           TracePro® 光学材料特性之仿真原理与应用 9f@#SB_H   8.           TracePro®杂散光辅助分析工具 ",M K'\E   9.           杂散光路径分析工具(Ray Path Sorting Tool) b5iIV1g   10.       简介 TracePro® Macro Language 3EbnZb   11.       基础 Scheme 语法介绍 o{ ,ba~$.w   12.       使用 TracePro® 宏指令，撰写自动化程序 *b$z6.   13.       撰写自动化杂散光分析程序 O0K@M   14.       蒙特卡罗光线追迹之原理与极限蒙特卡罗光线追迹之原理与极限 UPfFT^=y

建议对象：已熟悉TracePro 基础操作之相关从业人员 qP7&LtU  
招生名额：10人(请自带notebook) :0J-ek.;  
费用：美国原厂课程,两天价值3,500美元(机票加课程费用) 0Zc*YdH  
现在,您只需付RMB 3,500 (维护期内客户享有8折优惠) ,课后发给TracePro培训zhenhshu及TracePro POLO衫 eEZ|nEU  
日期：2011年6月27日~6月28日(星期一~二) zPX=MfF  
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讲师介绍 "sX[p  
现任Lambda Research Corporation台湾分公司资深开发工程师 G/LXUhuif  
专长光学设计与优化算法 #Qtg\X  
时间：2011年06月27日~06月28日(星期一~二) 09:00~16:00 MFc=B`/X  
地点：北京 vSyi}5D  
主办：APIC爱尔发上海分公司‧Lambda Research公司 Z4wrXss~  
报名：请于 6月20日前传真或e-mail报名表并完成汇款,座位有限，额满为止 ;55tf l  
电话：021-64052328  曹小姐  传真 : 021-64052327  e-mail：candy@apic.com.cn 9E->;0-  
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报名表请连结下载