1. 背景知识
7 xUE,)? 光学薄膜泛指在器件表面用物理化学等方法沉积,利用光的干涉现象以实现增透、高反射、滤光、分光等光学现象。例如采用减反射膜后可使复杂的光学
镜头的光通量损失成十倍地减小;采用高反射比的反射镜可使
激光器的输出功率成倍提高;利用光学薄膜可提高
太阳能电池的效率和稳定性。
Im6U_JsNZh 2. 设备能力
&1=g A.ZR OTFC-900型自动高精度光学薄膜
镀膜机是一种通用型的高档光学镀膜设备,适用从于从紫外到红外各种光学
玻璃和晶体上镀制减反射膜,高反射膜,分光膜和滤光膜及其它多层光学薄膜。
N50fL `y'aH
'EEd 1) 真空室尺寸:直径900毫米,高度約1300毫米
HQl~Dh0DJ 2) 排气性能
rxs8De 粗抽真空:从大气压到50Pa真空,8分钟以内
AhR0zg 极限真空:低于5.0E-5Pa
pOKeEW<q 恢复真空:15分钟之内达到8.0E-4Pa
NK~PcdGl 漏气速率:低于5.0E-3Pa・L/sec
/0
_zXQyV 3) 基板加熱特性
oQ{cSThj 最大设定温度: 350℃
":V%(c 加热40分钟以内,能到达300℃
aF!WIvir 温度均匀性: 300℃±10℃(加热40分钟后)
V#NtBreN 4) 电子枪/电源(JEOL制)
|<1M&\oaQ' 电子枪(BS-60050EBS):
of=ql (10kW,270°偏转)
|e:rYLxm: 电压 -4~-10kV(连续可变)
h<)yJh 5) 坩埚
5E`JD 环形坩埚:φ302×φ228×H15mm环状、材质Cu
/,X7.t_- 15点坩埚:外径尺寸φ35×H17mm、材质Cu
s047"Q 6) 离子源
P0)AUi 离子流密度分布均匀;利用离子源进行基片清洁和辅助镀膜时,基片表面质量无损伤
!x8kB
Di, a) 射频离子源:(Optorun制:OIS-Four,10cm)
zXjwnep 栅网尺寸:10cm
>4~#%& 最大射频功率:600W(13.56MHz)
\TZ|S,FS 束電圧:100V~1500V
dkpQZXi9% 最大束電流:500mA
s@PLS5d" 离子流密度分布:±10%以内
k1RV' 加速电压:100V~1000V
$,@JYLC2 标准导入气体量:氧气或氩气
Wa<-AZnh b) 射频中和器(Optorun制: RFN-1Af)
HJ",Sle 最大射频功率:150W(13.56MHz)
e:BDQU 最大中和電流:1500mA
u3ST; 标准导入气体量:氩气
L/%Y# 7) 光学膜厚监控
:WO{x g 反射式膜厚计(Optorun制HOM2-R-VIS350A)
\qB6TiB/ 波長范围:350~1100nm
n_}aZB3;U 波長精度:<±1nm
}qL~KA{& 波长分解能:标准6.5nm±1.0nm,546.1nm处
m2Q$+p@ 波长再现性:±0.25 nm
WU7cF81$ 安定性:<±0.1%/h(点灯60分後,环境温度安定,波長500nm)
k/@Tr
: 8) 水晶膜厚监控
h"r!q[MNo 控制仪: XTC/3 (Inficon制)
n>S2}y 水晶开始频率:6.0MHz
/e(W8aszi 频率变化测定分解能:±0.028Hz
Y0}4WWV 测定时间间隔:0.25秒
`6}Yqh)) &}E:jt} 3. 标准工艺
onib x^Fcd 1) ITO
DL1
+c`d 2)太阳电池减反膜
` .$&T7 Cx,-_ 3)高反膜
sjn:O' ?9Ma^C;} 4)截止滤光片
)'t&q/Wn },s_nJR:8 5)UV-IRCUT
8O9Gs =W<[Fe3 ZJvo9!DL|
5.操作手册
R+uw/LG 1) 目的
0#^Bf[Dn 在真空
系统中,利用电子束将坩埚中的源材料(介质)加热,使其蒸发,在基底表面形成均匀的薄膜。
w&5/Zh[~~L 2) 使用范围
W "k|K: 可装载六英寸基片6片;基底最高加温350℃;现有源材料:TiO2、SiO2、Ta2O5、ZrO2、Al2O3、MgF2、ZnS等
C99&L3bz^( 3) 注意事项
DN<M?u] 1.开机前检查水电气是否正常
}#bZ8tm& 2.清理真空室时务必盖上离子源与中和器的防护盖
6bUl>4 3.使用离子源结束后,需对中和器继续充Ar气使其冷却
kP?_kMOx 4.禁止非授权操作人员执行开机和关机步骤
fbV@= (y? 4) 准备工作
}/"4|U 1.基片清洗
x)5LT}p 2.补充源材料
7f
r>ZY^ 3.清理真空室
^vM_kArA 5) 操作步骤
`O
n(v 1、开机
\%4|t,en 1.1 打开冷却水,N2气、压缩空气
d' OGVN 1.2 打开总电源
&`@lB (m 1.3 打开UPS电源
A%n?} 1.4 点击触摸屏上的“PUMP DOWN/AUTO STOP”,设定开机时间,自动开
d- kZt@DL= 机,进行冷泵再生过程。
t\%%d)d9 2、放样
[T]Bf o 2.1 清理真空室
d"GDZ[6 2.2 补充源材料
m9!DOL1pl 2.3 检查是否需要更换光控片与晶控片
Ld~ q1*7J 2.4 放入样品
Wn~ZA# 2.5 如需使用离子源,必须将保护盖拿出
4 4`WYK l 2.6 关真空腔门,运行“CHAMBER EXHAUST”,抽真空
Eu4 &-i 3、熔源与蒸发镀膜
Q.E_:=*H 3.1 打开电脑,点击ACS图标,进入
软件操作界面
$L\@da? 3.2 在Melting中点击“select”,选择熔源程序
zR/IqW.`9 3.3 在process中点击“select”,选择镀膜程序
bvp)r[8h 3.4 如需使用离子源,在“Enable IBS Control”前打勾
]5)"gL%H` 3.5 依次打开离子源的AX-600III、AX-300、SOURCE DC、NEUTRALIZER
cmIT$?J DC、ION SOURCE CONTROLLER开关
C=[Ae, 3.6 打开气体流量控制仪
{2EMz|&8 3.7 点击电脑上“Start”执行自动熔源、镀膜,结束后关闭离子源,顺序与
t)'dF*L 3.5中相反,继续给中和器中充入N2一段时间
x?=B\8m 4、取样
ONfyYM? 4.1 当基片温度降到80℃以下,点击触摸屏上的“CHAMBER VENT”,执
4m\([EO 行充气过程
Ro~fvL~Ps 4.2 恢复到大气状态下,开腔室,先盖上离子源与中和器的保护盖,取样,
y@aKNWy}$ 清理真空室,进入到下一个循环。
`)2[ST 5、关机
ll2Vk*xs 5.1 点击触摸屏上的“AUTO STOP”自动关机
H`gb}?9R 5.2 关闭UPS,总电源
x=vK
EyS@ 5.3 关闭水、气