单电极芯片在封装行业对固晶的要求非常高,例如在LED生产过程中,固晶品质的好坏影响着LED成品的品质。造成LED固晶破裂的因素有很多,我们仅从材料、机器、人为三方面因素,探讨LED固晶破裂的解决方法。 D7$xY\0r
^[zF IO
一、芯片材料本身破裂现象 7M9s}b%?
,@2d4eg4
芯片破损大于单边芯片宽度的1/5或破损处于斜角时,各单边长大于2/5芯片或破损到铝垫,此类芯片都不可接受(这个是芯片检验标准中的一个专案)。产生不良现象的原因主要有: PvdR)ZEm
%P]-wBJw
1.芯片厂商作业不当 5TdI
o-t!z'\lO
2.芯片来料检验未抽检到 ?/ s=E+
#/pZ#ny
3.线上作业时未挑出 1'* {VmM
2qkC{klC^M
解决方法: ,<-a 6
JGk,u6K7
1.通知芯片厂商加以改善 U0S}O(Ptr
k<S!|
2.加强进料检验,破损比例过多的芯片拒收。 Va'K~$d_
fmq^AnKd
3.线上作业Q检时,破损芯片应挑出,再补上好的芯片。 hO:X\:G
Xq%!(YD|
二、LED固晶机器使用不当 "i*Gi
\U
8|,-P=%t
1.机台吸固参数不当 v6?<)M%
^A$~8?f
机台的吸嘴高度和固晶高度直接受机台电脑内参数控制。参数大,吸固高度小;参数小,吸固高度大,而芯片的破损与否,直接受机台吸固高度参数影响。产生不良现象的原因主要是:机台参数大,呼固高度低,芯片受力过大,导致芯片破损。 c[0$8F>
v]27+/a$c
解决方法:
oApI/o
l+ <x
调整机台参数,适当提高警惕吸嘴高度或固晶高度,在机台“SETUP”模式中的“Bondheadmenu”内的第一项“PickLevel”调节吸嘴高度,再在第二项“BondLevel”调节固晶高度。 Ljxn}):[
dUJNr_
2.吸嘴大小不符 -/&6}lD
j|WaWnl=
大小不同的芯片要用不同的吸嘴固晶。大的芯片用小的吸嘴、芯片吸不起来容易漏固;小的芯片用大的吸嘴、芯片容易打破,因此选用适当的吸咀,是固好芯片的前提。产生不良现象的原因是:吸咀太大,打破芯片。 Bj7\{x,?
>Y< y]vM:
解决方法:选用适当的瓷咀。 E]Hl&t/}
!ZV#~t:)
三、人为不当操作造成破裂 `0Q:d'
i&FC-{|Z
A、作业不当 ^ihXM]1{G
i]LK,'
未按规定操作,以致碰破芯片。产生不良现象的原因主要有: "$8<\k$LGT
\>/:@4oK
1.材料未拿好,掉落到地上。 |@-WC.
#(*WxVE
2.进烤箱时碰到芯片 I.e'
~K],hi^<P
解决方法:拿材料时候,手要拿稳。进烤箱时,材料要平着,轻轻的放进去,不可倾斜或用力过猛。 TJ5{Ee GV
|/lIasI
B、重物压伤 T[q-$8U
@4B2O"z`
芯片受到外力过大而破裂。产生这种不良现象的原因主要有: {Q(6
.0R
rb\Ohv\
1.显微镜掉落到材料上,以致打破芯片 e?lqs,m@"
W{m0z+N[B
2.机台零件掉落到材料上。 \a]\jZb
:g9z^ $g
3.铁盘子压到材料 #-HN[U?Gs
khv! \^&DD
解决方法: c8"I]Qc7
Sc~kO4
1.显微镜螺丝要锁紧 |f?C*t',
*E)Y?9u"
2.定期检查机台零件有无松脱。 e<^4F%jSK
T*T.\b
3.材料上不能有铁盘子等任何物体经过。