单电极芯片在封装行业对固晶的要求非常高,例如在LED生产过程中,固晶品质的好坏影响着LED成品的品质。造成LED固晶破裂的因素有很多,我们仅从材料、机器、人为三方面因素,探讨LED固晶破裂的解决方法。 ^Xb7[+I6
3REx45M2
一、芯片材料本身破裂现象 Ny- [9S-<
+=q)
芯片破损大于单边芯片宽度的1/5或破损处于斜角时,各单边长大于2/5芯片或破损到铝垫,此类芯片都不可接受(这个是芯片检验标准中的一个专案)。产生不良现象的原因主要有: p?D2)(
l_'[27
1.芯片厂商作业不当 >LC<O.
&,\=3'
2.芯片来料检验未抽检到 }R[#?ty;]
mW2,1}Jv
3.线上作业时未挑出 3.d"rl
2&'|Eqk
解决方法: D4Al3fe
=]`lN-rYw
1.通知芯片厂商加以改善 }v9\F-0>Q
w%AcG~`j!B
2.加强进料检验,破损比例过多的芯片拒收。 #`TgZKDg2
$
,SF@BhO
3.线上作业Q检时,破损芯片应挑出,再补上好的芯片。 o%{'UG
aprm0:Q^
二、LED固晶机器使用不当 U[L9*=P;
u]NZ`t%AP
1.机台吸固参数不当 gWABY%!}
*L6PLe
机台的吸嘴高度和固晶高度直接受机台电脑内参数控制。参数大,吸固高度小;参数小,吸固高度大,而芯片的破损与否,直接受机台吸固高度参数影响。产生不良现象的原因主要是:机台参数大,呼固高度低,芯片受力过大,导致芯片破损。 uwf
5!Z:>
n+@F`]Ke
解决方法: HoV^Y6
vb 1@yQ
调整机台参数,适当提高警惕吸嘴高度或固晶高度,在机台“SETUP”模式中的“Bondheadmenu”内的第一项“PickLevel”调节吸嘴高度,再在第二项“BondLevel”调节固晶高度。 7cAXd#sI
TD[EQ
2.吸嘴大小不符 SK1!thQy
Y2B&go
大小不同的芯片要用不同的吸嘴固晶。大的芯片用小的吸嘴、芯片吸不起来容易漏固;小的芯片用大的吸嘴、芯片容易打破,因此选用适当的吸咀,是固好芯片的前提。产生不良现象的原因是:吸咀太大,打破芯片。 9Zry]$0~R
dkgSvi :!
解决方法:选用适当的瓷咀。 JO=[YoTr
uw\2qU3gk
三、人为不当操作造成破裂 ~DRmON5 M
8l}1c=A}Vi
A、作业不当 21s4MagC
Sxdsv9w
未按规定操作,以致碰破芯片。产生不良现象的原因主要有: `Y-|H;z
!US d9
1.材料未拿好,掉落到地上。 du$|lxC
g %K>
2.进烤箱时碰到芯片 Om{l>24i.\
{3})=>u:S
解决方法:拿材料时候,手要拿稳。进烤箱时,材料要平着,轻轻的放进去,不可倾斜或用力过猛。 L9pvG(R%
l4n)#?Q?
B、重物压伤 ^7;JC7qmN
Qk!;M|
芯片受到外力过大而破裂。产生这种不良现象的原因主要有: y4h=Lki@
Vpy 2\wZWb
1.显微镜掉落到材料上,以致打破芯片 '$4O!YI9@
G}5 #l
2.机台零件掉落到材料上。 t8^m`W
?JL7=o
X
3.铁盘子压到材料 o6f_l^+H
^F?&|clM/
解决方法: UobyK3.%
ThPE
0V
1.显微镜螺丝要锁紧 Dnc(l(
Z/rP"|EuQ
2.定期检查机台零件有无松脱。 NmMIQ@K
gP+fN$5'd
3.材料上不能有铁盘子等任何物体经过。