单电极芯片在封装行业对固晶的要求非常高,例如在LED生产过程中,固晶品质的好坏影响着LED成品的品质。造成LED固晶破裂的因素有很多,我们仅从材料、机器、人为三方面因素,探讨LED固晶破裂的解决方法。 &Y"u*)bm
4/S% eZB
一、芯片材料本身破裂现象 iARIvhfdi
H"4^
芯片破损大于单边芯片宽度的1/5或破损处于斜角时,各单边长大于2/5芯片或破损到铝垫,此类芯片都不可接受(这个是芯片检验标准中的一个专案)。产生不良现象的原因主要有: 4{rwNBj(
hV_eb6aj}P
1.芯片厂商作业不当 m(nGtrQJm
g7k|Ho-W
2.芯片来料检验未抽检到 ' } rUbJo
TD+V.}
3.线上作业时未挑出 CuPZ0
6\(wU?m'/
解决方法: @bdGV#*d
r8XY"<
1.通知芯片厂商加以改善 yG'5u p
Wa~'p+<c~b
2.加强进料检验,破损比例过多的芯片拒收。 ?DEj|
i8
AW@I,
3.线上作业Q检时,破损芯片应挑出,再补上好的芯片。 sW 7R&t!G
8$<jd^w
二、LED固晶机器使用不当 c@)k#/[[b
oDul ?%
1.机台吸固参数不当 i'|rx2]e
<Yfk7Un
机台的吸嘴高度和固晶高度直接受机台电脑内参数控制。参数大,吸固高度小;参数小,吸固高度大,而芯片的破损与否,直接受机台吸固高度参数影响。产生不良现象的原因主要是:机台参数大,呼固高度低,芯片受力过大,导致芯片破损。 +DS_'Tmr
4w0 &f
解决方法: gQf'|%)AJ
K2<Q9 ,vt
调整机台参数,适当提高警惕吸嘴高度或固晶高度,在机台“SETUP”模式中的“Bondheadmenu”内的第一项“PickLevel”调节吸嘴高度,再在第二项“BondLevel”调节固晶高度。 Kx?3 ]
Oqeoh<y!\
2.吸嘴大小不符 |4BS\fx~N
YuD2Q{
大小不同的芯片要用不同的吸嘴固晶。大的芯片用小的吸嘴、芯片吸不起来容易漏固;小的芯片用大的吸嘴、芯片容易打破,因此选用适当的吸咀,是固好芯片的前提。产生不良现象的原因是:吸咀太大,打破芯片。 kpi)uGvGUA
$6 \v1
解决方法:选用适当的瓷咀。 tUl#sqN_{
wwVK15t
三、人为不当操作造成破裂 +`l>_u'
g@YJ#S (}
A、作业不当 s =Pwkte
xlF$PpRNM
未按规定操作,以致碰破芯片。产生不良现象的原因主要有: z
cN1i^
,g%2-#L%
1.材料未拿好,掉落到地上。 &;5QB
~p<o":k+Lv
2.进烤箱时碰到芯片 FQ>KbZh
"NSm2RU3
解决方法:拿材料时候,手要拿稳。进烤箱时,材料要平着,轻轻的放进去,不可倾斜或用力过猛。 D1t@Y.vl
E[HXbj"
B、重物压伤 0XFJ/
t8 g^W K
芯片受到外力过大而破裂。产生这种不良现象的原因主要有: =@;uDu:Q
Y~( #_K
1.显微镜掉落到材料上,以致打破芯片 .T?9-`I9
!vHUe*1a{
2.机台零件掉落到材料上。 ['j_W$8n
<SmXMruU
3.铁盘子压到材料 '`=z52
|,L_d2lb
解决方法: J2 {?P
cs
R"#DR^.;
1.显微镜螺丝要锁紧 d:} aFP[
|=2E?&%?
2.定期检查机台零件有无松脱。 Xu $_%+46
<Hl.MS
3.材料上不能有铁盘子等任何物体经过。