中科院2010年光学系列培训高级讲习班（10月16-22日）即将开课

中科院品牌培训课程，颁发中科院培训证 书 XQ k,xQ  
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课程名称与时间 orF8%  
 第七届光学设计高级讲习班（2010年10月16日-22日） w##$SaT
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 第二届光学检测讲习班（2010年10月16日-22日） &W y9%  
 第六届光学薄膜技术培训班（2010年11月9日-13日） cZ/VMQEr  
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培训效果 L6pw'1'  
 掌握专业要点，快速进入光学检测领域； DTV"~>@  
 注重行业应用，增加实际操控经验； 1`&"U[{  
 扩展研发视野，提升职业核心竞争力； ,3ivB8  
 名师现场答疑，解决生产研发中难题； ^X?3e1om  
 打造一流平台，营造结识同行良机； s4\_%je<v  
 颁发权威证书，增加求职就业砝码。 ~p/1 9/  
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培训内容 [tz}H&  
 光学设计讲习班 [)p>pA2GZj  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 >]8H@. \  
王之江院士、徐文东、黄惠杰研究员：光学系统设计 NHzhGg]  
 光学设计中的基本设计理念 (^Hpe5h&  
 光学系统的基本要求及指标 tsTCZ);(  
 设计实例的分析和讲解 dxeLu  
朱健强 研究员：光机系统设计和光学加工  Hn,;G`{  
 光机设计的原理、设计方法及常规内容 n#5%{e>  
 光学元件加工的工艺环节及其相关测控技术 "PY&NL?  
 平面、球面、透镜、棱镜等光学加工技术，非球面加工技术 [,ns/*f3R  
 特种光学元件加工技术，光学检测技术等 $>PV6  
范正修 齐红基 研究员：专题讲座：光学薄膜 1A\N$9Dls  
 光学薄膜在光学设计系统中的应用， fnO>v/&B  
 紫外和软X射线薄膜，功能性光学薄膜
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 激光对光学薄膜的破坏过程。 B"I^hrQ  
特邀专题授课：北京理工大学 王涌天教授 2~*.X^dR  
苏州大学 余景池教授等 w57D qG>  
特约赞助软件：CODE-V，LightTools，ASAP t=(CCq_N,  
学费:人民币3001元， 学生凭有效证件2701元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） >a2i%j/T  
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光学检测讲习班 ]PjJy/vkjj  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 iwnFCZVS  
中国光学学会光学测试专业委员会 3N5b3F  
苏大图教授（北京理工大学） -eoXaP{[  
 常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面）、系统性能、光学系统检测理论基础； qm=N@@R&  
陈明仪教授（上海大学） p!3!&{  
 光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； s:\FlQ0  
高志山教授（南京理工大学） ?T <2Cl'C  
 光学检测市场发展前沿动态； sDnXgCcS!  
徐德衍研究员（中科院上海光机所） .:=G=v=1  
 光学元件表面特性与美军标MIL的解读，特殊光学元件的现代检测，相关国际标准。 J PK
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李锡善研究员（中科院上海光机所） iqPMCOPZ  
 光学玻璃检测专题； "_ i:  
殷立峰总经理（翟柯莱姆达计量设备（上海）有限公司） ^8eu+E.{  
 光学检测实务 E
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沈卫星高工（中科院上海光机所） #)N}F/Od^  
 干涉检测专题； 8!(09gW'>  
 常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； `8D}\w<eI  
学费:人民币3002元，学生凭有效证 件2702元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） _B5v&#h(.  
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 光学薄膜讲习班 '9d] B^)F  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 8%D 2G i  
讯技光电科技（上海）有限公司 %ryYa  
范正修 齐红基 研究员--------基本原理、设计方法与软件应用 a8laPN  
 课程涵盖光学薄膜基础理论、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间每人会安装一套正版Essential Macleod薄膜设计软，针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。 7$u}uv`j  
易葵 正高级工程师--------光学薄膜沉积技术与工艺方法 Zw<\^1  
 给出光学薄膜制备完整的工艺流程，结合沉积技术对最终薄膜性能的影响，实例讲解系统配置、沉积技术以及工艺参数的选择、调控与优化。 #?EmC]N7  
贺洪波 研究员--------光学薄膜测试技术与测试结果的解读 %^CoWbU  
 介绍光学薄膜的光谱、损耗、激光损伤、力学以及微结构等多角度的测试技术与相关设备装置；结合光学薄膜测试实践，讲解测试结果的分析与应用。 SV0h'd(b  
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报名联系方式： U sS"WflB  
光学设计、光学检测：高福海 021- 69918011 gfhai@siom.ac.cn MYVgi{
 
QQ:905667687 传真：021-69918705 0<C]9[l  
光学薄膜：徐 艳　xuyan@siom.ac.cn　；021-69918842；021-69918028（传真） $(8CU$gi=  
详情请登陆：中国光学期刊网 http://www.opticsjournal.net:8889/training.htm