中科院2010年光学系列培训高级讲习班（10月16-22日）即将开课

中科院品牌培训课程，颁发中科院培训证 书 }n+#o!uEf  
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课程名称与时间 r sf +dC  
 第七届光学设计高级讲习班（2010年10月16日-22日） ,k*g`OTW  
 第二届光学检测讲习班（2010年10月16日-22日） *C~O[:6D  
 第六届光学薄膜技术培训班（2010年11月9日-13日） (x{
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培训效果 G+^Q _w  
 掌握专业要点，快速进入光学检测领域； }H!l@  
 注重行业应用，增加实际操控经验； GA,6G [E  
 扩展研发视野，提升职业核心竞争力； "r6DZi(^K  
 名师现场答疑，解决生产研发中难题； qVOlUH  
 打造一流平台，营造结识同行良机； }B{bM<dF  
 颁发权威证书，增加求职就业砝码。 K,7IBv,B[  
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培训内容 A4lh`n5%  
 光学设计讲习班 O1+2Z\F  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 q[l!kC+Eh  
王之江院士、徐文东、黄惠杰研究员：光学系统设计 sb"etc`w%-  
 光学设计中的基本设计理念 K5O8G  
 光学系统的基本要求及指标 vf=b5s(7Q  
 设计实例的分析和讲解 8+ P)V4}  
朱健强 研究员：光机系统设计和光学加工 }<y-`WB  
 光机设计的原理、设计方法及常规内容 teO%w9ByY  
 光学元件加工的工艺环节及其相关测控技术 (^fiw%#  
 平面、球面、透镜、棱镜等光学加工技术，非球面加工技术 czMThm  
 特种光学元件加工技术，光学检测技术等 3g!tk9InG  
范正修 齐红基 研究员：专题讲座：光学薄膜 _~?N3G  
 光学薄膜在光学设计系统中的应用， FL}k0  
 紫外和软X射线薄膜，功能性光学薄膜 Rf)lF
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 激光对光学薄膜的破坏过程。 0Q^a*7w`8a  
特邀专题授课：北京理工大学 王涌天教授 otQulL)T/  
苏州大学 余景池教授等 j]uL9\>  
特约赞助软件：CODE-V，LightTools，ASAP W\V'o Vt  
学费:人民币3001元， 学生凭有效证件2701元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） 7B@[`>5?%L  
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光学检测讲习班 Pqe{C?7B  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 `N8?F3>
 
中国光学学会光学测试专业委员会
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苏大图教授（北京理工大学） ;9>(yJI+  
 常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面）、系统性能、光学系统检测理论基础； AV"fOK;#A  
陈明仪教授（上海大学） Xr54/.{&@  
 光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； )24c(  
高志山教授（南京理工大学） u{F^Ngy )  
 光学检测市场发展前沿动态； S+03aJNN#  
徐德衍研究员（中科院上海光机所） 5$kv,%ah  
 光学元件表面特性与美军标MIL的解读，特殊光学元件的现代检测，相关国际标准。 8!a6)Zeux  
李锡善研究员（中科院上海光机所） *#O8 ^3D_c  
 光学玻璃检测专题； 7X\azL  
殷立峰总经理（翟柯莱姆达计量设备（上海）有限公司） qJY'"_Q{  
 光学检测实务 6\MH2&L<  
沈卫星高工（中科院上海光机所） jSLNQ  
 干涉检测专题； |P{K\;-  
 常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； q9GSUkb  
学费:人民币3002元，学生凭有效证 件2702元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） ig Mm.1>  
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 光学薄膜讲习班 O>YXvu  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 fmuAX w>  
讯技光电科技（上海）有限公司 *XRAM.  
范正修 齐红基 研究员--------基本原理、设计方法与软件应用 ,L iX  
 课程涵盖光学薄膜基础理论、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间每人会安装一套正版Essential Macleod薄膜设计软，针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。 Ep/kb-~-  
易葵 正高级工程师--------光学薄膜沉积技术与工艺方法 ]#n,DU}V  
 给出光学薄膜制备完整的工艺流程，结合沉积技术对最终薄膜性能的影响，实例讲解系统配置、沉积技术以及工艺参数的选择、调控与优化。 e0i&?m  
贺洪波 研究员--------光学薄膜测试技术与测试结果的解读 h?f)Bt}ry  
 介绍光学薄膜的光谱、损耗、激光损伤、力学以及微结构等多角度的测试技术与相关设备装置；结合光学薄膜测试实践，讲解测试结果的分析与应用。 y/!h.[  
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报名联系方式： Z:Hk'|q}I  
光学设计、光学检测：高福海 021- 69918011 gfhai@siom.ac.cn SDY!!.  
QQ:905667687 传真：021-69918705 4%h@K(iN  
光学薄膜：徐 艳　xuyan@siom.ac.cn　；021-69918842；021-69918028（传真） GEr]zMYG[A  
详情请登陆：中国光学期刊网 http://www.opticsjournal.net:8889/training.htm