中科院2010年光学系列培训高级讲习班（10月16-22日）即将开课

中科院品牌培训课程，颁发中科院培训证 书 kWbD?i-  
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课程名称与时间 SshjUNx  
 第七届光学设计高级讲习班（2010年10月16日-22日） @f`s%o  
 第二届光学检测讲习班（2010年10月16日-22日） YWhp4`m  
 第六届光学薄膜技术培训班（2010年11月9日-13日） uL |O<  
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培训效果 sPRo=LB  
 掌握专业要点，快速进入光学检测领域； Nc:0opPM  
 注重行业应用，增加实际操控经验； g [c^7  
 扩展研发视野，提升职业核心竞争力； a}V
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 名师现场答疑，解决生产研发中难题； a3C\?5  
 打造一流平台，营造结识同行良机； nJcY>Rp?  
 颁发权威证书，增加求职就业砝码。 y4Lh
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培训内容 To =JE}jzo  
 光学设计讲习班 g
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主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 M+-1/vR *@  
王之江院士、徐文东、黄惠杰研究员：光学系统设计 ]:svR@E  
 光学设计中的基本设计理念 g]jCR*]  
 光学系统的基本要求及指标 1)
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 设计实例的分析和讲解 R/jHH{T3  
朱健强 研究员：光机系统设计和光学加工 q" @%WK  
 光机设计的原理、设计方法及常规内容 X.[8L^ldh  
 光学元件加工的工艺环节及其相关测控技术 T4h&ly5 f  
 平面、球面、透镜、棱镜等光学加工技术，非球面加工技术 %,f(jQfg_  
 特种光学元件加工技术，光学检测技术等 <b_?[%(u  
范正修 齐红基 研究员：专题讲座：光学薄膜 Ah_0o_Di  
 光学薄膜在光学设计系统中的应用， o?S


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 紫外和软X射线薄膜，功能性光学薄膜 ?b xak  
 激光对光学薄膜的破坏过程。 Ti&v9re%wO  
特邀专题授课：北京理工大学 王涌天教授 !NTt'4/F{  
苏州大学 余景池教授等 !xE@r,'oN  
特约赞助软件：CODE-V，LightTools，ASAP J=Hyoz+9  
学费:人民币3001元， 学生凭有效证件2701元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） h~s h!W8  
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光学检测讲习班 3Uy(d,N  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 ')>D*e  
中国光学学会光学测试专业委员会 PH>`//D%n?  
苏大图教授（北京理工大学） %a|m[6+O  
 常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面）、系统性能、光学系统检测理论基础； Ue(\-b\)  
陈明仪教授（上海大学） zj2l&)N  
 光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； >r.W \  
高志山教授（南京理工大学） Yz? 8n  
 光学检测市场发展前沿动态； '1rO&F  
徐德衍研究员（中科院上海光机所） ?xw0kXK4  
 光学元件表面特性与美军标MIL的解读，特殊光学元件的现代检测，相关国际标准。 oa6&?4K?F  
李锡善研究员（中科院上海光机所） (lt{$0   
 光学玻璃检测专题； *Qy,?2  
殷立峰总经理（翟柯莱姆达计量设备（上海）有限公司） }NKnV3G/Z  
 光学检测实务 :(#5%6F  
沈卫星高工（中科院上海光机所） (W5JVk_o  
 干涉检测专题； 9{8xMM-  
 常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； 'M,O(utGv  
学费:人民币3002元，学生凭有效证 件2702元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） t(p}0}Pp  
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 光学薄膜讲习班 R})b%y`]  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 Zx)gLDd  
讯技光电科技（上海）有限公司 m.Ki4NUm  
范正修 齐红基 研究员--------基本原理、设计方法与软件应用 $y,tR.5.)[  
 课程涵盖光学薄膜基础理论、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间每人会安装一套正版Essential Macleod薄膜设计软，针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。 F[*/D/y(  
易葵 正高级工程师--------光学薄膜沉积技术与工艺方法 naVbcY  
 给出光学薄膜制备完整的工艺流程，结合沉积技术对最终薄膜性能的影响，实例讲解系统配置、沉积技术以及工艺参数的选择、调控与优化。 70.Tm#qh  
贺洪波 研究员--------光学薄膜测试技术与测试结果的解读 o8fY!C)  
 介绍光学薄膜的光谱、损耗、激光损伤、力学以及微结构等多角度的测试技术与相关设备装置；结合光学薄膜测试实践，讲解测试结果的分析与应用。 ,AwX7gx22  
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报名联系方式： @|<qTci  
光学设计、光学检测：高福海 021- 69918011 gfhai@siom.ac.cn f0+vk'Z  
QQ:905667687 传真：021-69918705 mb*|$ysPx  
光学薄膜：徐 艳　xuyan@siom.ac.cn　；021-69918842；021-69918028（传真） sPvjJr"s  
详情请登陆：中国光学期刊网 http://www.opticsjournal.net:8889/training.htm