中科院2010年光学系列培训高级讲习班（10月16-22日）即将开课

中科院品牌培训课程，颁发中科院培训证 书 1hG O*cq!  
RGLqn{<V  
课程名称与时间 G9q0E|  
 第七届光学设计高级讲习班（2010年10月16日-22日） 2[hl^f^%,  
 第二届光学检测讲习班（2010年10月16日-22日） i=+6R  
 第六届光学薄膜技术培训班（2010年11月9日-13日） Uo ,3 lMr  
LsV"h<  
培训效果 U?{j  
 掌握专业要点，快速进入光学检测领域； /K<Nlxcm  
 注重行业应用，增加实际操控经验； ,Pm/ci(s  
 扩展研发视野，提升职业核心竞争力； W~FA9Jd'Z  
 名师现场答疑，解决生产研发中难题； ^D
|c  
 打造一流平台，营造结识同行良机； jw[`\h}8  
 颁发权威证书，增加求职就业砝码。 ~s_$a8  
opC11c/  
培训内容 NM Ajt>t  
 光学设计讲习班 91XHz14  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 9Ba<'wk/>"  
王之江院士、徐文东、黄惠杰研究员：光学系统设计 Z}wAh|N-  
 光学设计中的基本设计理念 !c7Od )]  
 光学系统的基本要求及指标 mUbaR  
 设计实例的分析和讲解 bJD"&h5  
朱健强 研究员：光机系统设计和光学加工 =Yk$Q\c
 
 光机设计的原理、设计方法及常规内容 ez>@'yhK  
 光学元件加工的工艺环节及其相关测控技术 m}(DJ?qP  
 平面、球面、透镜、棱镜等光学加工技术，非球面加工技术 O.dNhd$  
 特种光学元件加工技术，光学检测技术等 KWo)}m*6  
范正修 齐红基 研究员：专题讲座：光学薄膜 4`F*] Ft  
 光学薄膜在光学设计系统中的应用， 8Bvjj|~ (@  
 紫外和软X射线薄膜，功能性光学薄膜 `L>'9rbZO  
 激光对光学薄膜的破坏过程。 $;1~JOZh  
特邀专题授课：北京理工大学 王涌天教授 \=<.0K A~  
苏州大学 余景池教授等 {Hv=iVmt  
特约赞助软件：CODE-V，LightTools，ASAP 2H#vA  
学费:人民币3001元， 学生凭有效证件2701元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） /a_|oCeC}  
dEiX!k$#  
光学检测讲习班 8] 
*{i  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 AVjtK  
中国光学学会光学测试专业委员会 N_0O""d  
苏大图教授（北京理工大学） r.GjM#X  
 常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面）、系统性能、光学系统检测理论基础； I}=}S"v  
陈明仪教授（上海大学） =DgD&_  
 光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； UPC& O  
高志山教授（南京理工大学） :Us-^zVr  
 光学检测市场发展前沿动态； cPXvTVvs  
徐德衍研究员（中科院上海光机所） 0)NHjKP  
 光学元件表面特性与美军标MIL的解读，特殊光学元件的现代检测，相关国际标准。 ".u?-xcbJ  
李锡善研究员（中科院上海光机所） r/e&}!  
 光学玻璃检测专题； or<JjTJ\o_  
殷立峰总经理（翟柯莱姆达计量设备（上海）有限公司） 9=SZL~#CE  
 光学检测实务 %WNy=V9txp  
沈卫星高工（中科院上海光机所） ^:0?R/A  
 干涉检测专题； (LjY<dQO  
 常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； k#.co~kS  
学费:人民币3002元，学生凭有效证 件2702元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） }b
VyvH  
i469<^A  
 光学薄膜讲习班 kLhtkuS4  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 Tla*V#:Ve  
讯技光电科技（上海）有限公司 jd{J3s '%  
范正修 齐红基 研究员--------基本原理、设计方法与软件应用 m8?(.BJ%  
 课程涵盖光学薄膜基础理论、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间每人会安装一套正版Essential Macleod薄膜设计软，针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。 b} *cw2  
易葵 正高级工程师--------光学薄膜沉积技术与工艺方法 0[];c$r<  
 给出光学薄膜制备完整的工艺流程，结合沉积技术对最终薄膜性能的影响，实例讲解系统配置、沉积技术以及工艺参数的选择、调控与优化。 Du/s  
贺洪波 研究员--------光学薄膜测试技术与测试结果的解读 J}x5Ko@  
 介绍光学薄膜的光谱、损耗、激光损伤、力学以及微结构等多角度的测试技术与相关设备装置；结合光学薄膜测试实践，讲解测试结果的分析与应用。 -=RXhE_{  
DF~w20+  
报名联系方式： JnZxP> 2B  
光学设计、光学检测：高福海 021- 69918011 gfhai@siom.ac.cn sDiYm}W  
QQ:905667687 传真：021-69918705 ZUh<2F  
光学薄膜：徐 艳　xuyan@siom.ac.cn　；021-69918842；021-69918028（传真） `uU@(  
详情请登陆：中国光学期刊网 http://www.opticsjournal.net:8889/training.htm