《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
75eZhs[b 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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uLSuY}K0 ftD(ed 第1章 简介
5=/j 1.1 半导体器件
<aQ5chf7 1.2 半导体工艺技术
Wv]ODEd 总结
*vOk21z77d 参考史献
f7:}t+d 第1部分 半导体物理
##nC@h@ 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
RKy!=#;17 2.1 半导体捌料
=Y5_@}\0 2.2 基本晶体
结构 CTJwZY7 2.3 基本晶体生长技术
^/~C\
( 2.4 共价健
z@v2t>@3k 2.5 能带
^Vg-fO]V 2.6 本征载流子浓度
vrIWw?/z? 2.7 施主与受主
JC
iB;!y 总结
^9 ^DA!' 参考文献
z/wwe\ a5 习题
~W-5-Nl{s 第3章 载流子输运现象
F8|m i`f- 3.1 载流子漂移
{Mc;B9W 3.2 载流子扩散
!vq|*8 3.3 产生与复合过程
wY3|5kbDj 3.4 连续性方程斌
yiMqe^zy 3.5 热电子发射过程
J@+b_e* 3.6 隧穿过程
S=G2%u!; 3.7 强电场效应
}#6~/
W 总结
h!?rk| 参考文献
Q^):tO]!Ma 习题
c^stfFE& 第2部分 半导体器件
bWJ&SR> 第4章 p-n结
.0p'G}1 4.1 基本工艺步骤
Xn02p,, 4.2 热平衡状态
u{S"NEc 4.3 耗尽区
5]zH!>-F 4.4 耗尽层势垒电容
LIn2&r:U 4.5 电流-电压特性
,n$NF0^l 4.6 电荷储存与暂态响应
U#|6n , 4.7 结击穿
f o idneus 4.8 异质结
vbfQy2q 总结
a}X.ewg 参考文献
(*9-Fa 习题
L;v.X'f 第5章 双极型晶体管及相关器件
|)S*RQb\ 5.1 晶体管的工作原理
)FN$Jlo
5.2 双极型晶体管的静态特性
49YN@PXC 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
A2SDEVU 5.4 异质结双极型晶体管
SGu`vN] 5.5 可控砟器件及相关功率器件
}=|plz} 总结
g([M hf# 参考文献
e-#Vs{?|r 习题
)r?-_qj= 第6章 M0SFET及相关器件
?in)kL 6.1 MOS二极管
D"exI] 6.2 MOSFET基本原理
QOY{j 6.3 MOSFET按比例缩小
EI496bsRHm 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
L%+mD$@u 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
AcHeZb8b 6.6 MOS存储器结构
;9LOeH? 6.7 功率M05FET
""*g\ 总结
BZ(I]:oDL 参号文献
k 7:Z\RGy 习题
N_/+B]r }T 第7章 MEsFET及相关器件
dWdD^>8Ef 7.1 金属-半导体接触
rU6A^p\, 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
!+]KxB 7.3 调制摻杂场效应晶体管
+.Xi7x+#O 总结
u<4bOJn({ 参考文献
=}YX I 习题
Jhfw$ DF 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
J|vg<[ 8.1 基奉微波技术
VOIni<9y 8.2 隧道二极管
h/6^>setz 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
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TFAR>8Nm 第9章 光电器件
HiBI0)N} 第3部分 半导体工艺
XlnSh<e 第10章 晶体长生外延
}Rw6+; 第11章
薄膜淀积
UuC-R) 第12章 图形曝光与刻蚀
tq?a3 第13章 杂质掺杂
EWr7eH 第14章 集成器件
>P]gjYN 附表
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