上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 d2tJ=.DI  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 o`7B@]  
网址:www.sci-soft.com xqzB=0  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. j$=MJN0  
A)    薄膜测量/测试 软件 }!@X(S!do  
;#S4$wISw`  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) bVYsPS  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 hSU|rVi  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) !k=~a]  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) <x\I*%(  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 <O9.GHV1v  
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B) 薄膜测量 仪器 S<"`9r)av  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ YveNsn  
X.JPM{]
  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ Gkz~xQy1T  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b =pn(5
6  
Standard Spectral Range标准光谱范围F  q{RT~,%  
Reflection反射测量, VMV~K7%0  
Transmission透射测量5wIBS\ bb"x^DtT  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY -mqTlXM  
Power Spectral Density功率谱密度测量a Nj;G%KAP  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y 5vjtF4}7!  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 99&PY[f:{  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% $/;<~Pzi  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F CO.e.:h  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n {b90c'8?a  
Composition成分测量c*'nh) 6Z68n  
Crystallinity晶状测量DTE; Z*lZl8(`  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF dJUI.!hv;  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" @BS7Gyw  
etc. 等等 BZ>,Qh!J  
N1jJ(}{3  
Typical  applications典型应用:P Dp" xO<PE2  
>;OwBzB  
OLED有机发光二级管薄膜
`#>JRQ=  
Flat panel display平板显示器薄膜 R*z:+p}oHy  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 jGKasI`  
Computer disks计算机磁盘薄膜 ]6TX)1  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 h,)UB1  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 XyE%<]  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 h|Udw3N1L  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` bB"q0{9G-  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 p_l.a  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC r
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etc. 等等 vV7L :>  
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