上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 iC*F
  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 J7v|vjI  
网址:www.sci-soft.com =i(?deR  
TARXx>  
SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. [Tnsr(Z  
A)    薄膜测量/测试 软件 %%Qo2^-  
fPR$kch  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) MCT'Nw@A  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 Uz7^1.-g4  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) Raw)9tUt  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) -_<}$9lz  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 vAX|hwn;  
9W8]8sUeG  
B) 薄膜测量 仪器 &EM\CjKv"  
$-c!W!H  
SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ t!2(7=P30(  
Dk='+\  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ )NO<s0?&  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b I"1;|`L~:  
Standard Spectral Range标准光谱范围F q|%(3,)ig  
Reflection反射测量, uK'&Dam  
Transmission透射测量5wIBS\ c)Ic#<e(  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 6&
!&\  
Power Spectral Density功率谱密度测量a n3lE,b  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y Lgz$]Jbl8  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 3&x-}y~sg  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% k@ K
7yK  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F fRfn2jA)d  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n Nk[2n
yeO>  
Composition成分测量c*'nh) \@>b;4Fb+N  
Crystallinity晶状测量DTE; o0ZM[0@j  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF k/03ZxC-  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" xP=/N!,#  
etc. 等等 Z--@.IYoJ  
}@+NN ?P  
Typical  applications典型应用:P QaGlR`Y  
$HG}[XD?  
OLED有机发光二级管薄膜 ?go:e#  
Flat panel display平板显示器薄膜 zd_HxYrN  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 KIeT!kmDl  
Computer disks计算机磁盘薄膜 DOz\n|8S  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 2qi'g:qe  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 +p8BGNW,  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 %hN.ktZ/s  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` ~O 3D[PNW~  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 j,d*?'X  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC
%Rh;=p`  
etc. 等等 5/QRL\  
f1PN|  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： "C?5f]T  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 \7z^!m  
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com网址：http://www.ECCN.com