上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 i1>-QDYnJ  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 89wU-Aggq  
网址:www.sci-soft.com ~wJFa'2  
L7VG`h;  
SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. :j]vf8ec  
A)    薄膜测量/测试 软件 &<UMBAS  
F@<CsgKB-  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) {3.r6ZwCn  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 xv&Q+HD  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) op6CA"w  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 8AnP7}n;?'  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 [BT/~6ovrZ  
/ew Ukc8,  
B) 薄膜测量 仪器 -
eN\ !  
WC|.g,9#  
SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ 72oF,42y  
=9"W@n[>W  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ hED=u/ql[  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b %YSu8G_t  
Standard Spectral Range标准光谱范围F 8'f4 Od ?  
Reflection反射测量, ,{LG4qvP  
Transmission透射测量5wIBS\ 
<oo  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY pGK;1gVj  
Power Spectral Density功率谱密度测量a 9Iz%ht  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y kn>$lTHQ  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 86\S?=J-b  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% :@!ic
<p  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F T+<A`k: -  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n x >^Si/t  
Composition成分测量c*'nh) cdG|
m[  
Crystallinity晶状测量DTE; ##EYH1P]  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF E[bd@[N 8  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" ;Hj~
n+  
etc. 等等 ODC8D>Z
Yl  
cg*)0U-_(  
Typical  applications典型应用:P FN%m0"/Z{t  
e`v`XSA[p  
OLED有机发光二级管薄膜 ?HV`| Cw  
Flat panel display平板显示器薄膜 Hx\H $Y  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 ~I799Xi  
Computer disks计算机磁盘薄膜 hDp6YV,q  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 K%X^n>O7C  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 HH@qz2w  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 vMs$ceq  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` i7utKj*57  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 A%{W{UP8N  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC w&B#goS  
etc. 等等 vJU*>U,  
0#YX=vjX7  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： jD`d#R  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 zdEPDdB  
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com网址：http://www.ECCN.com