上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 \MK)dj5uUJ  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 uh`~K6&*\w  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. /.7x[Yc  
A)    薄膜测量/测试 软件 [Z~>7ayF+)  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) :8yrtbf$  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 m6+2rD  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) u\smQhQGE  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) q2&&n6PYW  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 z8vFQO\I"  
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B) 薄膜测量 仪器 I{B8'n{cN  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ WNlWigwYl  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ AUzJ:([V  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b $N:m 9R  
Standard Spectral Range标准光谱范围F t~,!a?S7  
Reflection反射测量, =xai 7iM  
Transmission透射测量5wIBS\ z4H!b+   
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY h`&mW w  
Power Spectral Density功率谱密度测量a ;(VJZ_
 
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y
}5zH3MPQH  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] N[dhNK"  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% kf&id/|
  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F /rKrnxw  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n :m@(S6T m  
Composition成分测量c*'nh) 4'G<qJoc  
Crystallinity晶状测量DTE; AO>K 6{  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF v\$XhOK  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" oA_AnD?G+  
etc. 等等 B@.U\.  
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Typical  applications典型应用:P VEE:Z^U!  
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OLED有机发光二级管薄膜 vHJ~~if  
Flat panel display平板显示器薄膜 )5'S=av9  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 nVs0
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Computer disks计算机磁盘薄膜 > YN<~z-  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 l.>QO ;  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 ,B!u*  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 L{<E'#@F  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` Ms^,]Q1{  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 EQu M|4$ix  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC n8R{LjJ2@  
etc. 等等 c_HYB/'  
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