上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 af:wg]g  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 H-*"%SJ  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. v}$s,j3NO  
A)    薄膜测量/测试 软件 _li\b-  
E^RPK{zO  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) liYR8D |  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 QO'=O}e  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) Y|s?9'z  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) a^9-9*  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 U?MKZL7  
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B) 薄膜测量 仪器 $U uSrX&  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ ,O9rL :?  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ ,| \62B`  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b v7"Hvp3w  
Standard Spectral Range标准光谱范围F QQd%V#M?  
Reflection反射测量, [n53eC  
Transmission透射测量5wIBS\ aS7[s6  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY " <GDOL  
Power Spectral Density功率谱密度测量a %cWy0:F5VY  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y $] js0)>  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] Dn[iA~  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% W6Os|z9&|  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F :&]THUw  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n 8gA:s`ofJ  
Composition成分测量c*'nh) oEqt7l[I{  
Crystallinity晶状测量DTE; G4jaHpPi  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF UUxDW3K  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" \XG18V&  
etc. 等等 x*)@:W!  
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Typical  applications典型应用:P +sTZ) 5vQ  
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OLED有机发光二级管薄膜 ]"Do%
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Flat panel display平板显示器薄膜 6j]pJ]F6  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 V9v80e {n4  
Computer disks计算机磁盘薄膜 Eua\N<!aai  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 =xs{Ov=  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 a;Nj'M~U  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 ,{@,dw`lUz  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` K22'XrN  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 jLULf+8&  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC 
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etc. 等等 ;tS4h  
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