上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 8ft
LYMX@  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 fx99@%Ii  
网址:www.sci-soft.com RgRyo  
85w D<bN27  
SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. Kcsje_I-M  
A)    薄膜测量/测试 软件 v9x $`  
Mff_j0D  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) 9/~m837x  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 nDMNaMYb  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) U%t:]6d&}  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) /UN%P2>^1  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 I]~xs0$4#  
MGN*i9CE  
B) 薄膜测量 仪器 )WwysGkqol  
3P^eD:) w  
SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ n!ea)+^  
<saS2
.4  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ AY[7yPP  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b lY?TF  
Standard Spectral Range标准光谱范围F ;yBq'_e3  
Reflection反射测量, *q|.H9 K(  
Transmission透射测量5wIBS\ 8ENAif  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY TcauCL  
Power Spectral Density功率谱密度测量a I"Ju3o?u  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y $daI++v`  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] !xj>~7  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% PM[6U#  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F zw\"!=r^  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n qW?^_
  
Composition成分测量c*'nh) $`{}4,5M  
Crystallinity晶状测量DTE; Z TjlGU `  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF x03GJy5  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" )Qw|)='-  
etc. 等等 N^%[ B9D  
|Ro\2uSr  
Typical  applications典型应用:P kki]6_/n  
q'C'S#qqn  
OLED有机发光二级管薄膜 w?oIKj  
Flat panel display平板显示器薄膜 Da?0B9'  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜
|PI.xl:ch  
Computer disks计算机磁盘薄膜 i
T 4H@  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 XfViLBY( >  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 2>ce(4Gky  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 C\$7C5/  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` r}"Ty  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 5IVASqYp  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC b:Rl }"a  
etc. 等等 #/\FB'zC  
kIU"-;5tP  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： hCW8(Zt  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 k}F;e_  
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com网址：http://www.ECCN.com