上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 DiOd!8Y  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 1eV&oN#  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. ;92xSe"Ww  
A)    薄膜测量/测试 软件 8rS;}Bt  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) ]NBx5m+y@i  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 r<n:o7  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) 9O-~Ws ;  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) J^7M0A4K  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 =^rp= Az  
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B) 薄膜测量 仪器 R_g(6l"3R^  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ vX6JjE!  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ 4t }wMOR  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b LI3L~6A>  
Standard Spectral Range标准光谱范围F - A@<zqu  
Reflection反射测量, a?nK|Q=e  
Transmission透射测量5wIBS\ +aEm]=3  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY k'|
yUJ,  
Power Spectral Density功率谱密度测量a k)Lhzr[  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y 0\Jeyb2dl  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] kO*\JaD  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% fPKpV`Hr3  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F &xB9;v3
 
Energy band gap能量带隙测量U4r[n W?aP%D"(i  
Composition成分测量c*'nh) 4.wrY6+V  
Crystallinity晶状测量DTE; 1;<Vr<.  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF 7bO>[RQB  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" v@GhwL  
etc. 等等 +:ms`Sr>  
MK/8<i<.  
Typical  applications典型应用:P $'5rS$]a/  
Zqe$S +u  
OLED有机发光二级管薄膜 C@:X9NU  
Flat panel display平板显示器薄膜 nXhP ME  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 PPySOkmS3  
Computer disks计算机磁盘薄膜 1Dhe! n#  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 xFThs,w  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 *tRsm
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Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 KFO K%vbM  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` zb4@U=?w}  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 CEw%_U@8  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC S&IW]ffK  
etc. 等等 '/\*l<  
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