上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 =|zyi|  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 /]58:euR  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. n7<-lQRaxZ  
A)    薄膜测量/测试 软件 ~bQ:gArk  
@)B5^[4(;  
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) NNV.x7  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 L.&Vi"M <@  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) \evgDZf  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) sSb&r  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 jS)-COk  
gM]/Y6*$b  
B) 薄膜测量 仪器 "tbBbEj?d  
z>#$#:Z4  
SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ NY w(hAPv  
;Awzm )Q  
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ \}
(-9dr  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b lcLxqnv  
Standard Spectral Range标准光谱范围F 9GOyVKUv  
Reflection反射测量, _E-GHj>k z  
Transmission透射测量5wIBS\ W| eG}`  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY oO,p.X%  
Power Spectral Density功率谱密度测量a bJ[1'Es`  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y @y%qQe/g  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 1KEPD@0oxx  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% BbhdGFG1  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F c'4 \F9  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n J)~=b_'<  
Composition成分测量c*'nh) SaScP  
Crystallinity晶状测量DTE; :~(^b;yhZ  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF :zZM&r>  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" ?["ZE
a  
etc. 等等 jF0BWPL  
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b:..Ku  
Typical  applications典型应用:P 1%{(?uz9  
2^j9m}`  
OLED有机发光二级管薄膜 U4/$4.'
NQ  
Flat panel display平板显示器薄膜 p_N=V. w  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 TMs\#  
Computer disks计算机磁盘薄膜 X> KsbOZ  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 e6/} M3B  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 CF4y$aC#  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 @J)vuGS  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` ]5L3[A4Vu  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 ?^0Z(<Arz  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC  HuClO  
etc. 等等 L32ki}2  
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