上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 VWI|`O.w  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 EZ8Ih,j9  
网址:www.sci-soft.com 8;5 UO,`T  
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. V/.Y]dN5  
A)    薄膜测量/测试 软件 fM]zD/ g  
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) |4\.",Bg  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 0mF3Vs`-Q  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) b*no.eB  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) $"!"=v%B  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 %t([  
pa~.[cBI  
B) 薄膜测量 仪器 1Yo9Wf;vP  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ DDwH9*  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ y"<nx3  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b aW$sd)  
Standard Spectral Range标准光谱范围F </>;PnzE  
Reflection反射测量, Xjt/ G):L  
Transmission透射测量5wIBS\ ~]*P/'-{#  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY l5b? 'L  
Power Spectral Density功率谱密度测量a 0V uG(O  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y nr
Jl>H  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] m*6C *M  
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% 4N[8LC;MH  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F *r6+Vz  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n "~:o#~
F6  
Composition成分测量c*'nh) [[}KCND  
Crystallinity晶状测量DTE; N?eWf +C  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF ow,I|A  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" Ms;:+JI  
etc. 等等 `PXSQf  
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Typical  applications典型应用:P byR|L:L  
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OLED有机发光二级管薄膜 CPWe (
 
Flat panel display平板显示器薄膜 Cb~_{$A  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 f7c%Z:C#Y  
Computer disks计算机磁盘薄膜 ma)Y@Uw M  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 R#eY@N}\  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 ZW{pO:-  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 R#.FfWTZ  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` jc)[5i0  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 d#9 \]Ul&  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC i1e|UR-wl  
etc. 等等 Lt$LXE  
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