上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

SCI美国科学计算国际公司 g->cgExj  
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 vb{+yEa  
网址:www.sci-soft.com eATX8`
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. uy~KJn?Tu  
A)    薄膜测量/测试 软件 yQ> *F  

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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) n237%LH[  
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 6aG/=fq  
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) pPcn F`A  
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) ms'!E)  
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 PgZ~of&  
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B) 薄膜测量 仪器 ".z~c%'  
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SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~ jP6;~[rl  
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ X*Mw0;+T  
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b 8
H_3.MK  
Standard Spectral Range标准光谱范围F ruM16*S{=  
Reflection反射测量, ;8UHnhk_O  
Transmission透射测量5wIBS\ 8Ua;< h%  
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY CUOxx,V  
Power Spectral Density功率谱密度测量a <o5+*X  
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y 2RDos#  
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 9V&%_.Z
 
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% JcxhI]E  
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F ,[IN9W  
Energy band gap能量带隙测量U4r[n I(E1ym  
Composition成分测量c*'nh) <Tr_,Ya{9  
Crystallinity晶状测量DTE; TL(L[  
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF jcF/5u5e  
Surface Roughness表面粗糙度测量L" f<ABs4w  
etc. 等等 Zg%SE'kK  
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Typical  applications典型应用:P \HFh?3-g  
i*j[j~2>C;  
OLED有机发光二级管薄膜 ,R$n I*mf_  
Flat panel display平板显示器薄膜 o>{+vwK  
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 uQ#3;sFO  
Computer disks计算机磁盘薄膜 T"-HBwl  
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 @*W,Jm3Y  
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 emb~
l{K$  
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 =8 d`qS"  
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` Ow=`tv$l  
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 KLlo^1.<  
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC .H+`]qLkL  
etc. 等等 ['m@RJm+  
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