光学薄膜设计软件
Optilayer使用实例：评估设计曲线
KJf~9w9U @}^eyS$|! 例:评估一四分之一波片的
光谱特性:
7rdPA9 )Fo1[:_B ' 参数为：QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52)
!83N.
gN I}@m6D|\ 层材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3).
3?"JFfYU,' UQ ~7,D`=# Evaluation：新建工作目录：File_Problem，出现问题目录(Problem directory),输入目录名称，单击OK.
Js7D>GWP! NSPa3NE 打开Datebase窗口并输入基底和层材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出现Datebase窗口：
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%j[DG_ #Ang8O@y 单击Substrate或Layer Material可分别输入基底和层材料，基底输入：单击NEW，输入基底名称，
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dT]m J7C2:zj 单击OK,再在Re(n)栏输入基底折射率1.52, 再单击OK
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;AwQ pq>dy m#(tBfH[ 然后在Datebase窗口双击GLASS或单击选中GLASS再单击Load。即输入了基底GLASS，可于General Information窗口中查看。
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g7|$JevR0 }#rdMh 同理，在Datebase窗口单击Layer Material，再输入层材料MGF2(1.38)和ZNS(2.3)。单击Design，再单击New输入设计名称，单击OK出现Design窗口，输入层数12，中心波长500：
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l/JE}Eg( fnUR ]5\tc 单击OK，再Load该设计。Analysis_T&R&Phase，产生Evaluation图：
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^lP_{ c wM^_pah#Y5 在图上单击右键，选中Axis出现分析选项窗口
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QqC4g] DM-8azq $ 可调节X和Y轴，单击Apply即生效。单击Plots ，
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\rw/d5. p:hzLat~ 在Char栏下把T改为R，单击Apply即可将图输出形式由透过改为反射。如图：
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sc2n Lyn$ r*'X ]q|L+ 上图为垂直入射，我们同样可以显示有角度时的图形，Analysis_Options，再单击Plots（或在图形上单击右键再选中Plots）。
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=!G3YZ E f1R?< 单击Add，输入角度，颜色。单击Apply。如图：
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}^Unx W M@>EZ 保存：Data_Save Design。
