[原创]光学薄膜设计软件Optilayer使用实例1：评估设计曲线 [复制链接]

光学薄膜设计软件Optilayer使用实例：评估设计曲线 f+ZOE?"  
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例:评估一四分之一波片的光谱特性: X^dasU{*  
O-ENFA~E;v  
参数为：QWM@500,     12L     基底:GLASS(1.52) {>vgtkJ  
cAGM|%  
层材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). ;7EeRM*  
[O'aka Q  
Evaluation：新建工作目录：File_Problem，出现问题目录(Problem directory),输入目录名称，单击OK. 8@+<W%+th  
7p\&D?  
打开Datebase窗口并输入基底和层材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出现Datebase窗口： mXhC-8P  

图片:o1.jpg

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单击Substrate或Layer Material可分别输入基底和层材料，基底输入：单击NEW，输入基底名称， :-U&_%#w  

图片:o2.jpg

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THX% z `  
单击OK,再在Re(n)栏输入基底折射率1.52, 再单击OK >'=9sCi  

图片:o3.jpg

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然后在Datebase窗口双击GLASS或单击选中GLASS再单击Load。即输入了基底GLASS，可于General Information窗口中查看。 ollVg/z  

图片:o4.jpg

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同理，在Datebase窗口单击Layer Material，再输入层材料MGF2(1.38)和ZNS(2.3)。单击Design，再单击New输入设计名称，单击OK出现Design窗口，输入层数12，中心波长500： YMNLn9  

图片:o5.jpg

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kS+  
单击OK，再Load该设计。Analysis_T&R&Phase，产生Evaluation图： -OmpUv-O"  

图片:o6.jpg

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C2zKt/)A  
在图上单击右键，选中Axis出现分析选项窗口 thX4-'i  

图片:o7.jpg

P.k>6T<U>  
D%?9[Qb  
可调节X和Y轴，单击Apply即生效。单击Plots ， B<Cg_C  

图片:o8.jpg

#u+qV!4  
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在Char栏下把T改为R，单击Apply即可将图输出形式由透过改为反射。如图： FL^t}vA  

图片:o9.jpg

~@QAa (P.  
@x A^F%(  
上图为垂直入射，我们同样可以显示有角度时的图形，Analysis_Options，再单击Plots（或在图形上单击右键再选中Plots）。 "Y5 :{Kj  

图片:o10.jpg

v+trHdSBYE  
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单击Add，输入角度，颜色。单击Apply。如图： eTw9c }[  

图片:o11.jpg

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保存：Data_Save Design。