[原创]光学薄膜设计软件Optilayer使用实例1：评估设计曲线 [复制链接]

光学薄膜设计软件Optilayer使用实例：评估设计曲线 rnIjpc F  
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例:评估一四分之一波片的光谱特性: }t)+eSUA  
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参数为：QWM@500,     12L     基底:GLASS(1.52) j6qtR$l|  
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层材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). l]]NVBA])  

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Evaluation：新建工作目录：File_Problem，出现问题目录(Problem directory),输入目录名称，单击OK. UleT9 [M  
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打开Datebase窗口并输入基底和层材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出现Datebase窗口： 9Dx~!(  
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单击Substrate或Layer Material可分别输入基底和层材料，基底输入：单击NEW，输入基底名称， Af|h*V4Xu  
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单击OK,再在Re(n)栏输入基底折射率1.52, 再单击OK ;(NTzBq!1  
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然后在Datebase窗口双击GLASS或单击选中GLASS再单击Load。即输入了基底GLASS，可于General Information窗口中查看。 >dAl*T  
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AzU:Dxr>.G  
同理，在Datebase窗口单击Layer Material，再输入层材料MGF2(1.38)和ZNS(2.3)。单击Design，再单击New输入设计名称，单击OK出现Design窗口，输入层数12，中心波长500： &f.5:u%{b  
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单击OK，再Load该设计。Analysis_T&R&Phase，产生Evaluation图： fQoAdw  
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在图上单击右键，选中Axis出现分析选项窗口 tV++QC7@L  
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可调节X和Y轴，单击Apply即生效。单击Plots ， y_WC"  
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:|j[{;asY  
在Char栏下把T改为R，单击Apply即可将图输出形式由透过改为反射。如图： ;j0.#P:a  
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Zo=,!@q(  
上图为垂直入射，我们同样可以显示有角度时的图形，Analysis_Options，再单击Plots（或在图形上单击右键再选中Plots）。 iA[T'+.Y  
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单击Add，输入角度，颜色。单击Apply。如图： A[P7hMn  
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OS[ s Qo5  
保存：Data_Save Design。