光学薄膜设计软件
Optilayer使用实例：评估设计曲线
P"V{y|2 _']%qd"% 例:评估一四分之一波片的
光谱特性:
#A|D\IhF iBtjd`V* 参数为：QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52)
fOK+DT~ e$ XY\{
层材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3).
r{_B: { /F rs*AF Evaluation：新建工作目录：File_Problem，出现问题目录(Problem directory),输入目录名称，单击OK.
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KYA _\ 4` 打开Datebase窗口并输入基底和层材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出现Datebase窗口：
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=$)4: `\ W 单击Substrate或Layer Material可分别输入基底和层材料，基底输入：单击NEW，输入基底名称，
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nL":0!DTRD E VN-<=i^ 单击OK,再在Re(n)栏输入基底折射率1.52, 再单击OK
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m{b ZRkt I+Ncmg )> 然后在Datebase窗口双击GLASS或单击选中GLASS再单击Load。即输入了基底GLASS，可于General Information窗口中查看。
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/ i-xX* bVa+ kYE 同理，在Datebase窗口单击Layer Material，再输入层材料MGF2(1.38)和ZNS(2.3)。单击Design，再单击New输入设计名称，单击OK出现Design窗口，输入层数12，中心波长500：
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[5? 4c'Ev E(QZ!'%K+m 单击OK，再Load该设计。Analysis_T&R&Phase，产生Evaluation图：
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=9qGEkd3 z. 2r@Psk 在图上单击右键，选中Axis出现分析选项窗口
|+Hp+9 J 
c-4m8Kg?L nabBU4;h 可调节X和Y轴，单击Apply即生效。单击Plots ，
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;ZQ- uz KA 5~">l 在Char栏下把T改为R，单击Apply即可将图输出形式由透过改为反射。如图：
:]CzN^k(1c 
*#&k+{a^2 qj~flw1: 上图为垂直入射，我们同样可以显示有角度时的图形，Analysis_Options，再单击Plots（或在图形上单击右键再选中Plots）。
}}^,7n pU 
GBH_r 0 Vs#"SpH{ ' 单击Add，输入角度，颜色。单击Apply。如图：
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@4IW=V YSR mt/ 保存：Data_Save Design。
