EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， <Ih)h$8`  
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 #X1iig+  
1)    Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 ]06orBV  
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 L?:.8k`d  
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. *i3\`;^=  
1.多层厚度（1? 到 250 microns） L+VqTt  
2.折射率n ]@LeyT'cY  
3.吸收系数k :E`/z@I  
4.双折射率 O1]L4V1iH  
5.能隙（Eg） 3msb"|DG  
6.表面粗糙度和损伤 xDJ@MW#  
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） Z'=:Bo{  
8.薄膜温度特性 r Z)?uqa  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 t*J*?Ma  
技术参数 O\0]o!  
1. 厚度测试范围: 1? to 250 microns L{PH8Xl_  
2. 重复性：      ± 0°（△）   <Cv6wC=  
3. 折射率精度：  ± 2*10-5 W@S>#3,  
4. 光谱范围:     380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） X^Dklqqy  
5. 入射角:       0°（70°可选） ]c/k%]o~  
6. 测试速度：    小于 15 s &}}UdJ`  
7. 光斑直径：    小于 50 nm iR(=<>  
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 m^?a/  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： l5
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电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 lJlyfN  
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com y(81| c#  
SCI 网址：http://www.sci-soft.com hJ|zX