EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品 &c^7O#j  
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， 9eSRCLhgD  
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 *,jqE9:O  
1)    Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 Fzs>J&sY&  
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 y9 uVCR
 
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. 8&Wx@QI  
1.多层厚度（1? 到 250 microns） @a;sV
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2.折射率n hmzair3X  
3.吸收系数k gHH&IzHF  
4.双折射率 4!'1/3cY  
5.能隙（Eg） i+U51t<  
6.表面粗糙度和损伤 (4ZLpsbJ  
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） eiB(VOJ  
8.薄膜温度特性 \9jpCNdJ  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 !u0U5>ccw  
技术参数 Oy'0I,  
1. 厚度测试范围: 1? to 250 microns a(Sv,@/  
2. 重复性：      ± 0°（△）   7K !GK  
3. 折射率精度：  ± 2*10-5 fv|%Ocm  
4. 光谱范围:     380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） BD4"pcr  
5. 入射角:       0°（70°可选） onh?/3l  
6. 测试速度：    小于 15 s /'`6 ; uRN  
7. 光斑直径：    小于 50 nm W9jNUZVXE#  
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 P%jkKE?B4  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： /C7svH  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 JJNmpUJ  
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com !h/
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SCI 网址：http://www.sci-soft.com h9Z[z73_a