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    [求助]使用TracePro模擬薄膜厚度改變後之透射率問題 [复制链接]

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    离线阿秋
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2008-04-03
    Dear各位大大................. 8F;f&&L"y  
    yt@;yd:OEk  
    我在做led模擬,目前遇到些瓶頸,請各位大大為我解答一下....... !gKz=-C  
    XP |qY1  
    以下是我的模擬資料,其模擬目的為研究薄膜厚度與透射率改變影響光強度(lux)之關係........ [l7 G9T}/[  
    R=ipK63  
    1.LED Chip:由substrate(300µm*300µm*100µm)及p-n junction組成(n-type為300µm *300µm*4µ P> wDr`*  
                            m;p-type為300µm*300µm*0.3µm )。 9!kH:Az[p  
        2l YA% n  
    2.基板:Sapphire substrate (藍寶石基板),Index=1.7。 H ({Y  
        O7x'q<PFU  
    3.材料:GaN (氮化鎵),Index=2.4。 ET1>&l:.  
        nB+UxU@  
    4.光源:p-n junction上下面各1 流明,共2流明。 M< 1rQW'  
        M;$LB@h  
    5.光束:p-n junction上下面各1000 rays,共2000 rays。 uHNh|ew21  
        y. A]un1  
    6.監視面:10mm*10mm之正方面。 V|njgcn d  
        ="<S1}.  
    7.距離:LED Chip與監視面之間距離為15mm。 r@.3.Q  
    | WN9&  
    8.模擬光源假設條件: yE6EoC^  
    B/n/bi8T  
    (1)藍寶石基板其它四面(前、後、左、右)設定為全部吸收,無反射現象,上部無任何設定,下部設定為全反射(假設當作一維光子晶體模擬)。 {Iu9%uR>@  
    ]JUb;B;Z  
    (2)LED Chip其它四面(前、後、左、右)設定為全部吸收,無反射現象,上部與下部無任何設定。 jr=>L:  
    f]*_]J/  
    9.我在p-type上再加設一層薄膜index為1.7,設定為不發光,其厚度由100nm、110nm、120nm一直到200nm,但我做研究的結果,其厚度改變,但結果卻是不變,也就是說光強度並未改變,我有設important sampling,target center z為15.003,如果薄膜厚度改變,其光強度不變的話,與光學原理不符,請問我是不是在哪裡有設定錯誤呢? 8!!iwmH{  
     
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    离线lifeng513
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    只看该作者 1楼 发表于: 2008-04-04
    光形应该变的 总的光通量不会变 因为你的观测面相对chip足够大