[求助]使用TracePro模擬薄膜厚度改變後之透射率問題 [复制链接]

Dear各位大大................. db_?da;!`  
 wk8fa  
我在做led模擬，目前遇到些瓶頸，請各位大大為我解答一下....... gsM$VaF(  
VpHwc!APq  
以下是我的模擬資料，其模擬目的為研究薄膜厚度與透射率改變影響光強度(lux)之關係........ uIO,9> ee  
tg#jjXV\0p  
1.LED Chip：由substrate(300µm*300µm*100µm)及p-n junction組成(n-type為300µm *300µm*4µ ;0oL*d[1Z  
                        m；p-type為300µm*300µm*0.3µm )。 |&WYu,QQ4  
    GiuE\J9i  
2.基板：Sapphire substrate (藍寶石基板)，Index=1.7。 'h6G"=+  
    86-Rm  
3.材料：GaN (氮化鎵)，Index=2.4。 `^8mGR>OpI  
    w2'z~\dG8  
4.光源：p-n junction上下面各1 流明，共2流明。 WK*tXc_[b  
    hkb\GcOj  
5.光束：p-n junction上下面各1000 rays，共2000 rays。 PP'5ANK  
    jmv=rl>E*  
6.監視面：10mm*10mm之正方面。 [3-u7Fx!  
    Y]`=cR`/"  
7.距離：LED Chip與監視面之間距離為15mm。 > _sSni  
 @"fv[=Xb  
8.模擬光源假設條件： s-WZ3g
 
8i73iTg(  
(1)藍寶石基板其它四面(前、後、左、右)設定為全部吸收，無反射現象，上部無任何設定，下部設定為全反射(假設當作一維光子晶體模擬)。 _^b\#Jz4U3  
ti9e(Jt!O  
(2)LED Chip其它四面(前、後、左、右)設定為全部吸收，無反射現象，上部與下部無任何設定。 &XC
d2  
r-EIoZ"P  
9.我在p-type上再加設一層薄膜index為1.7，設定為不發光，其厚度由100nm、110nm、120nm一直到200nm，但我做研究的結果，其厚度改變，但結果卻是不變，也就是說光強度並未改變，我有設important sampling，target center z為15.003，如果薄膜厚度改變，其光強度不變的話，與光學原理不符，請問我是不是在哪裡有設定錯誤呢? mMZ{W+"[f  

光形应该变的 总的光通量不会变 因为你的观测面相对chip足够大