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    [求助]使用TracePro模擬薄膜厚度改變後之透射率問題 [复制链接]

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    离线阿秋
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2008-04-03
    Dear各位大大................. =qw &dwIQ  
    SWT:frki`  
    我在做led模擬,目前遇到些瓶頸,請各位大大為我解答一下....... f7Zf}1|  
    L.kD,'G}>  
    以下是我的模擬資料,其模擬目的為研究薄膜厚度與透射率改變影響光強度(lux)之關係........ e|VJ9|;3  
    Ee8--  
    1.LED Chip:由substrate(300µm*300µm*100µm)及p-n junction組成(n-type為300µm *300µm*4µ 90p3V\LO  
                            m;p-type為300µm*300µm*0.3µm )。 82|q7*M*.  
        `0?^[;[u[  
    2.基板:Sapphire substrate (藍寶石基板),Index=1.7。 B3Mx,uXT\  
        0rcjorWI  
    3.材料:GaN (氮化鎵),Index=2.4。 0vDg8i\  
        @m?{80;uQ  
    4.光源:p-n junction上下面各1 流明,共2流明。 R3?:\d{  
        +lKrj\Xj  
    5.光束:p-n junction上下面各1000 rays,共2000 rays。 i *B:El1  
        l]$40 j  
    6.監視面:10mm*10mm之正方面。 }C_|gd  
        Wk}D]o0^@  
    7.距離:LED Chip與監視面之間距離為15mm。 o_O+u%y  
    ) o xIzF  
    8.模擬光源假設條件: 9 Va40X1  
    ?I\v0H*  
    (1)藍寶石基板其它四面(前、後、左、右)設定為全部吸收,無反射現象,上部無任何設定,下部設定為全反射(假設當作一維光子晶體模擬)。 -?5$ PH  
    l~['[Ub0)  
    (2)LED Chip其它四面(前、後、左、右)設定為全部吸收,無反射現象,上部與下部無任何設定。 ?ql2wWsQO  
    n26>>N  
    9.我在p-type上再加設一層薄膜index為1.7,設定為不發光,其厚度由100nm、110nm、120nm一直到200nm,但我做研究的結果,其厚度改變,但結果卻是不變,也就是說光強度並未改變,我有設important sampling,target center z為15.003,如果薄膜厚度改變,其光強度不變的話,與光學原理不符,請問我是不是在哪裡有設定錯誤呢? kxh 5}eB  
     
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    离线lifeng513
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    只看该作者 1楼 发表于: 2008-04-04
    光形应该变的 总的光通量不会变 因为你的观测面相对chip足够大