[求助]使用TracePro模擬薄膜厚度改變後之透射率問題 [复制链接]

Dear各位大大................. LcS\#p#s]  
Pn|A>.)z  
我在做led模擬，目前遇到些瓶頸，請各位大大為我解答一下....... Y`jvza%  
0A\OZ^P8  
以下是我的模擬資料，其模擬目的為研究薄膜厚度與透射率改變影響光強度(lux)之關係........ NfizX!w&  
I\E`xkbBu  
1.LED Chip：由substrate(300µm*300µm*100µm)及p-n junction組成(n-type為300µm *300µm*4µ ,K=\Y9l3  
                        m；p-type為300µm*300µm*0.3µm )。 ~pA_E!3W  
    r'xZF~}k"~  
2.基板：Sapphire substrate (藍寶石基板)，Index=1.7。 8enlF\I8g  
    (`PgvBL:  
3.材料：GaN (氮化鎵)，Index=2.4。 d2s
Y.L  
    _<pSCR0  
4.光源：p-n junction上下面各1 流明，共2流明。 :U_k*9z}=
 
    8A/"ia  
5.光束：p-n junction上下面各1000 rays，共2000 rays。 !gA<9h  
    9}^nozR,I  
6.監視面：10mm*10mm之正方面。 9TRS#iVL+*  
    @\0U`*]^)  
7.距離：LED Chip與監視面之間距離為15mm。 a@:(L"Or  
 ZHT_o\  
8.模擬光源假設條件： -d]-R?mQ  
HwTb753  
(1)藍寶石基板其它四面(前、後、左、右)設定為全部吸收，無反射現象，上部無任何設定，下部設定為全反射(假設當作一維光子晶體模擬)。 !h3$C\  
<$bM*5sHF>  
(2)LED Chip其它四面(前、後、左、右)設定為全部吸收，無反射現象，上部與下部無任何設定。 9jq}`$S{  
&nkYJi(!  
9.我在p-type上再加設一層薄膜index為1.7，設定為不發光，其厚度由100nm、110nm、120nm一直到200nm，但我做研究的結果，其厚度改變，但結果卻是不變，也就是說光強度並未改變，我有設important sampling，target center z為15.003，如果薄膜厚度改變，其光強度不變的話，與光學原理不符，請問我是不是在哪裡有設定錯誤呢? D^ZG-WR  

光形应该变的 总的光通量不会变 因为你的观测面相对chip足够大