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摘要 x`n$4a'7b -|;{/ s5
*R1m= <QbD ; (% 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 -7E)u q6DuLFatc* 建模任务 278:5yC Q@]~O-
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DOOq;+ 微结构 kT6h}d^/^ {8+FxmH
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n;&08M5an} ,z<J`n 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: \Ps}1)wT J>_|hg= 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 )CgKZ" r7B.@+QK 微结构组件的配置 ;75m 9yGo e4:,W+g,9
='r86vq Gy}WZ9{ - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 h-r\1{Q1] - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 s<3cvF< - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 sBUK v(U) - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 fny|^F]w u|]{|Ya'% 总结-组件… bY`
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WX.6| Dp1FX"a) d^uE4F} q!UN<+k\h 监测器平面上的衍射图案 K]c|v
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X}j WNN HC1jN8WDY 监测器平面上的衍射图案 <'(O0 LPuc&8lGWf
w3,DsEXu [=3f:>ssm 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 *=G~26*!V W`^euBr7R> 高度缩放调制 #B_Em$ W^U6O&-K
Ltk'` Pv-El+e! 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 v67utISNI Cu2eMUGt
~HW8mly' F7o#KN*.] VirtualLab Fusion技术 5a8[0&hA 2 lI,lR
3)D' Yx ^)i5.o\ 文件信息 K!AW8FnHkZ +-%&,>R
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