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摘要 -cM1]soT >
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V`1,s~"q 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 ;~EQS.Qp NS~;{d\ 建模任务 I5_HaC>
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F5Z,Jmi^M 4P&2Z0 微结构 }=5>h' < \&5V';
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Lr:Qc#2 m{/(
3 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: bI55G#1G IHni1 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 MLu!8dgI kFv*>>X` 微结构组件的配置 Q$c6l[(g k*\Bl4g
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Rl[M+Q - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 .9rYBy - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 +e-F`k - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 c Mgd - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 ^_;'9YD Uj):}xgi' 总结-组件… P.'.KZJ:WD *Jd"3Si/
OG/b5U rD].=.?1 ,~1'L6Ri? R}ki%i5| 监测器平面上的衍射图案 tWIs
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fQJ`&9m*BF ^#HaH 监测器平面上的衍射图案 >fH0>W+! >R+-mP!nj
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uA@"SG ~U0%}Bbh 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 -&Z!b!jN n#lbfN 4 高度缩放调制 h2ROQKL"B +e>SK!kB7
Alxf;[s 2:*15RH3 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 3~~X,ZL S,c{LTL
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