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摘要 /]?e^akA j)wrF@W
L#WGOl ~R\ $Z 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 @YVla!5O@ &UVqFo 建模任务 QRx9;!~b} OKAmw>{
gH.$B' e:K'e2 微结构 V+zn`
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Rp!"c 4&%E?_M 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: oN)I3wO$ ;I6C`N 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 cG (%P$ #=72/[ 微结构组件的配置 3v&Shb?xb; xVrLoAw
W)^%/lAh 3m~,6mQ - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 |[p]])
o - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 {{)pb>E - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 [ {HTGz@( - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 3EH@tlTl ]bbP_n8 总结-组件… 8bf@<VTO_ (=j/"Mb
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?{3i b!`6s \=$G94% 监测器平面上的衍射图案 ItVVI"- 'Hgk$Im+
#GfM^sK 8Pva ]Q 监测器平面上的衍射图案 ;Zc0imYL X5-[v(/]
+: Nz_l 1(Z+n,Hh 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 .yHK 7\ X_%SM % 高度缩放调制 Ft}nG&D ?X\uzu
?m9=Me -=n!k^?lK 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 A'"J'q*t 9!0-~,o
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c VirtualLab Fusion技术 3JD"* <zs \^!<Y\\
1;!dTh ZkdSgc') 文件信息 NC YOY R%\<al$O
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