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摘要 ?!6Itkg Xa?O)Bq.
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$` 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 JHt
U" x9 %=d 建模任务 e12QYoh pUb1#=
=I@t%Y E)gD"^rex 微结构 !}#> ky!t f7lj,GAZ
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.4)oZ {;c'@U 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: :aej.>I0 {_-kwg{"( 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 jTvcKm|q >8>!wi9U 微结构组件的配置 Cp6S2v I <$0is:]
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/VCjuV - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 '|[V}K5m/f - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 , ~O>8VbF - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 ;7QXs39S - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 fY[Fwjj3 ,,gMUpL7_8 总结-组件… G?1GkR t]$n~!
Mw/9DrE7/ IR6W'vA c\{N:S> &v{#yzM 监测器平面上的衍射图案 $^ee~v;m4 olE(#}7V
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p~;3 监测器平面上的衍射图案 )S g6B;CJ nF <K84
hv|a8=U!R ""0Y^M2I 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 QxYm3x5 $r/$aq=K 高度缩放调制 u2 s Zv;nY7B
4v\HaOk ,|:.0g[n 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 8tx*z"2S bC
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.~f )4'T 9 ~~W.]>f VirtualLab Fusion技术 %Jt35j@Ee Qr$'Q7
:?6HG_9X .xJ54Vz 文件信息 IA2VesHb GY%9V5GB
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