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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 M@et6aud;K  
    `G9 l  
                               tc+WWDP#"  
    LeOP;#  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 \ 0W!4D  
    dT"hNHaf  
    建模任务     > L2HET  
    Q\ppfc{,  
    ]=pR  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 saf&dd  
    KngTc(^_D  
     NPa\Cg[  
    FS6`6M.K  
    图层矩阵解算器 $;N*cH~  
    ^TY ;Zp  
     %QmxA 7fW  
    ED>prE0  
    Pz*_)N}j >  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 XRx+Dddt;  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和  {^a36i  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 "TyJP[/  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 +ZMls [  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     pKiZ)3U  
    }je,")#W  
    更多的信息： 8Me:Yp_Xt  
    ,l YE  
    总结-组件 Ysq'2  
    `]Fx.)C#  
    &Mq~T_S  
     X|f7K  
    ajR%c2G;  
    两条光谱线的可视化 !* Ti}oIo&  
    zi R5:d3   
     M>9-=$7  
    精细vs.涂层反射率 o1W:ox?kO  
    R'EUV0KX>Y  
     McH>"`  
    c0B|F  
    精细度vs.涂层反射率 voP7"Dl[  
    X[ q+619  
    0sN.H=   
    内部谐振增强     j`^$#  
    CYYkzcc^  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ::Ke ^dp  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 @k[R/,#'[t  
    z%MW!x  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 aRG2@5  
    xh7cVE[UM  
    VirtualLab Fusion技术 t@u7RL*n:<  
    fVb-$  
     N\:. M  
    文件信息 -F'b8:m  
    "k]CW\H6z  
     ?]D"k4  
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