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摘要 >dwWqcP 0|=y#`;,Z
jj 'epbA oBo |eRIt| Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 E7B?G3|z3 e$rPXRf 建模任务 K;w]sN+I \E05qk_;K
aQ&K a 具有高反射(HR)涂层的标准具 wMCgLh\wi M}=>~TA@
''z]o#=^9 RfCu5Kn 图层矩阵解算器 l=$?#^^ / 3m$Qd#|
hb}Qt Q G2P:|R 53bVhPGv 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 axN\ZXU 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 -<" ;|v4 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 UDgX
A 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Z:2%gU&W 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 G6JP3dOT f9d{{u 更多的信息: rc"8N<D D$TpT
X\ 总结-组件 < |