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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 >dwWqcP  
    0| =y#`;,Z  
                          
    jj ' epbA  
    oBo |eRIt|  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 E7B?G3|z3  
    e$rPXRf  
    建模任务
    K;w]sN+I  
    \E05qk_;K  
    aQ&K a  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 wMCgL h\wi  
    M}=>~TA@  
    ''z]o#=^9  
    RfCu5Kn  
    图层矩阵解算器 l=$?#^^ /  
    3m$Qd#|  
    h b}QtQ  
    G2P:|R  
    53bVhPGv  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 axN\ZXU  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 -<" ;|v4  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 UDgX A  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Z:2%gU&W  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    G6JP3dOT  
    f9d{{u  
    更多的信息: rc"8N<D  
    D$TpT X\  
    总结-组件 <R%TCVwC@  
    sl P>;  
    IQ xi@7%&  
    E7/i_Xkk  
    H"?Ndl:  
    两条光谱线的可视化 _U^G*EqL*  
    rcH{"\F_/  
    EDF0q i  
    精细vs.涂层反射率 z"FxKN~Z  
    Re*~C:  
    *|;`Gp  
    Q DKY7"H  
    精细度vs.涂层反射率 s={IKU&m[  
    Dg}EI^ d  
    f*p=j(sF  
    内部谐振增强
    zp``e;gY  
    ph%t #R  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 7>AM zNj  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 u?'J1\z  
    by,3A  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 rQ&XHG>Q*  
    BhiOV_}Hn  
    VirtualLab Fusion技术 /2tP d  
    "QBl "<<s  
    j^h:*rw  
    文件信息 ni<\ AF]`  
    4Bt)t#0  
    S?c<Lf~W  
    vw-y:,5`t8  
     
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