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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 /A>nsN?:]  
    .|P :n'  
                          
    c<Ud[x.  
    D#,A_GA{A  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 J}bLp Z  
    tr A ^JY  
    建模任务
    ?{L'd  
    ,l,q;]C%  
    1'\s7P  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 j5smmtM`s  
    wZ`*C mr  
    E KJ2P$  
    4kK_S.&  
    图层矩阵解算器 yr.sfPnJK  
    $EdL^Q2KAy  
    &- My[t  
    +T,0,^ *  
    ]Ee$ulJ02  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 f"4w@X2F  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Aeq^s  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 o>]z~^c  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 :S-{a  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    >I;.q|T  
    j(>xP*il  
    更多的信息: l&Y'5k_R  
    alsD TQ'  
    总结-组件 wIWO?w2  
    I;UT; /E2  
    d*U<Ww^q  
    4#t-?5"  
    nuA 0%K  
    两条光谱线的可视化 r{*BJi.b  
    ]9W7]$  
    P%!=Rj^2m  
    精细vs.涂层反射率 =u.23#.  
    i;juwc^n}  
    #veV {,g  
    H9!q)qlK  
    精细度vs.涂层反射率 ^oW{N  
    Ua=r24fy  
    $>+g)  
    内部谐振增强
    MGr e_=Dm_  
    #nAq~@X  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 D`Ka IqLz  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 9^nRwo  
    o-;/ x)  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 }u{gQlV  
    !aL=R)G&e  
    VirtualLab Fusion技术 /?Mr2!3N  
    6GqC]rd*:  
    JZ&_1~Z=  
    文件信息 o/n4M]G  
    -*Th=B-  
    25@@-2h @  
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