切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 294阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    7232
    光币
    30301
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 Ia^/^>  
    6is+\  
                               [c=![ *}/  
    FY+@fy  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 5rA>2<\pQ  
    DuQ:82 3b  
    建模任务     $'a]lR  
    l,b_' m@  
    $K|2k7  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 n2F*a  
    M&/e*Ta5  
     :c[T@[  
    ,~K4+ t_  
    图层矩阵解算器 d;r,?/C  
    8h|~>v  
     G%%F6)W  
    6H|T )  
    ZU9RvtbKB  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Mw;^`ZxT  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 " M&zW&  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 "KY]2v.  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 %Si3LQf  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     b0/[+OY   
    K~8!Gh{h]  
    更多的信息： <S@2%%W  
    pl 1CEoe  
    总结-组件 z`8>$9  
    JQ\o[t  
    # kmI#W"^  
     2l8z/o7v  
    /-3)^R2H  
    两条光谱线的可视化 mx^rw*'JGC  
    QVN @B[9  
     wmX *n'l  
    精细vs.涂层反射率 JCITIjD7=  
    1a},(ZcdX  
    fhQ N;7  
    Lb2/ Te*  
    精细度vs.涂层反射率 UWBR5  
    |Gb~[6u   
    M""X_~&I"  
    内部谐振增强     072`i 46  
    mw=keY9]  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 7I6& *I  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 !z?:Y#P3  
    LoS%  FI  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 G9> 0w)r  
    S3 /Z]?o  
    VirtualLab Fusion技术 js=w!q0)9  
    k%cT38V*  
    gO! :WD  
    文件信息 (Yc}V  
    /vFdhh  
     9'\*Ip^  
     )XD$YI  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表