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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 :_JZn`Cab  
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                               ?z%@;&  
    /AV [g^x2  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 s, m+q)  
    T0s7aw[zm  
    建模任务     ]vJZ v"ACn  
    QLH&WF  
    8*kZ.-T B  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 hm3,?FMbq  
    yaD<jc(O  
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    |7]7~ 6l  
    图层矩阵解算器 eT1b88_  
    ,Q4U<`ds!  
     } [}u5T`w>  
    0#4_vg .  
    GdG1e%y]z  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 *F*c  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 (rO_ Vfaa  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 1}#v<b$  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Be}e%Rk  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     E]w1!Ah M  
    GY<ErS)2  
    更多的信息： <J-bDcp  
    `bu3S }m7  
    总结-组件 _6"vPN  
    ~R/w~Kc!/A  
    3 Yf%M66t  
     sv\'XarM  
    21D4O,yCe  
    两条光谱线的可视化 H .)}|  
    ]#R'hL%f  
     a(Ka2;M4J  
    精细vs.涂层反射率 '<~rV  
    /_y%b.f^  
    &[,g `S0  
    IF~i*  
    精细度vs.涂层反射率 L;/#D>U(  
    -/|O*oZ  
    q9o =,[  
    内部谐振增强     j b1OcI%  
    ?xh_qy;  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 rt$z&#M  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 FP<RoA? W  
    =o\ :@I[  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 @QI]P{   
    [M_pf2Y  
    VirtualLab Fusion技术 S+H#^WSt  
    J7$1+|"  
    MuB8gSu  
    文件信息 rubqk4  
    u^a\02aV[  
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     AE!WYE  
     
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