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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 ?K pDEH~\  
    ) q'D9x9  
                               6P >Y2xV:  
    JXkx!X_{  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 +-;v+{  
    0$`pYW]  
    建模任务     3,G|oR{D  
    ,2Ed^!`  
    f2gh|p`  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 :9 (kU  
    3C!|!N1Hn  
     AaB1H7r-  
    BTr;F]W  
    图层矩阵解算器 uZ_?x~V/  
    Q?j '4  
     C[znUI>  
    sx+k V A  
    <astIu Au  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 9=iMP~?xF  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 NMw5ixl  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 "'``O~08/  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 \2El>>  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     bt1bTo  
    @+M1M 2@Xz  
    更多的信息： ]6v7iuvI  
    J_&cI%.  
    总结-组件 ts[8;<YD  
    tOnOzD  
    {-7ovH?  
     }Tm+gJA  
    aDz% %%:r  
    两条光谱线的可视化 <w~$S0_  
    g8Y)90 G  
     ;6 d-+(@  
    精细vs.涂层反射率 <<qzZ+u  
    $Nvox<d0  
    +7WpJ;C4  
    @/As|)  
    精细度vs.涂层反射率 1=+S'_j  
    U"@p3$2QW  
    l#ct;KZ  
    内部谐振增强     &=%M("IlD  
    UjunIKX+  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 {be|G^.c  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Bf^K?:r"V  
    !7]^QdBLY  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 `_neYT  
    `{w|2 [C3  
    VirtualLab Fusion技术 BH}rg,]G  
    !F6rcDKI  
    &u"mFweS  
    文件信息 lv.h?"Ml  
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