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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 ryUQU^v  
    3/e.38m|  
                               .p]RKS=(:  
    9oR@U W1  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 CiLg]va   
    x vl#w  
    建模任务     mtp+rr  
    =O_4|7Zl  
    }1i`6`y1  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 e+ BQww  
    {|_M # w~&  
     ]]9R mh=  
    V0.vQ/  
    图层矩阵解算器 vB|hZTW  
    Tc &z:  
     I%X6T@P  
    Jg\zdi:t  
    JZ*/,|1}EC  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 K;Uvb(m{&  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 >xYpNtEs  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 FvXZ<(A{  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 l2rd9 -T  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     "ZoRZ'i  
    g:D>.lKd  
    更多的信息： #+HJA42  
    BsqP?/  
    总结-组件 i8[t=6Rm@  
    [-k  
    n:\~'+$  
     FR4QUk  
    ukfQe }I  
    两条光谱线的可视化 E+R1 !.  
    +wvWwie  
     zrL$]Oy}x  
    精细vs.涂层反射率 m}aB?+i  
    kmsb hYM)  
    Agg<tM{yB  
    k,E{C{^M  
    精细度vs.涂层反射率 y'~U%,ki6  
    YY((V@|K  
    ceh j;  
    内部谐振增强     ?U5{Wa85D  
    RO VW s/  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 |\<`Ib4j  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 RLynE V;]  
    B=yqW  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 E$:*NSXj  
    ]kG"ubHV?h  
    VirtualLab Fusion技术 V b4#,  
    ^aMg/.j  
    9T}pT{~V  
    文件信息 *:YiimOY"  
    I<4Pur>"  
     !M]uL&:  
     q J=~Y|(  
     
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