切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 58阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6850
    光币
    28400
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 0uU%jN$  
    4Ro(r sO  
                          
    f/;\/Q[Z7  
    R|+R4'  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 D?\K~U* >  
    EJWMr`zdn  
    建模任务
    6eDIS|/  
    fr#lH3  
    -;P<Q`{I  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 {sm={q  
    M+hc,;6  
    oLr"8R\d>t  
    |}M']Vz  
    图层矩阵解算器 M@'V4oUz  
    \aZ(@eF@@Q  
    xD\Km>|i  
    @5?T]V g  
    rIb[gm)Rk  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ;2@sn+@  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 @i{JqHU"  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 9)l_(*F  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 .@6]_h;  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    MW`a>'0t?  
    }qD.Ek  
    更多的信息: ]R4)FH|><  
    /2@%:b)  
    总结-组件 amBz75N{  
    #h3+T*5} 6  
    3-mw-;.  
    b(SV_.4,'  
    b<F 4_WF  
    两条光谱线的可视化 Pm1 " 0  
    /M3D[aR<d  
    Rm*}<JN31  
    精细vs.涂层反射率 D+SpSO7yg  
    i `>X5Da5  
    YjX=@  
    EkL\~^  
    精细度vs.涂层反射率 6 gKOpa  
    i52R,hz  
    s^oNQ}  
    内部谐振增强
    r/4]b]n  
    %b{!9-n}  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 *.*:(7`  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 'QS"4EvdD  
    vv0zUvmT  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 W vJ?e  
    =P#!>*\ar  
    VirtualLab Fusion技术 g \-3c=X  
    p&4n3%(R@  
    Nb#7&_f=  
    文件信息 `e9uSF:9C  
    bvgD;:Aj  
    dI !/:x  
    Qwa"AY 5pW  
     
    分享到