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摘要 Y Y$Z-u(
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 *+00 W59 xe&l Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 kbbHa_;aqV
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建模任务 ux 17q>G bweA mSs
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具有高反射(HR)涂层的标准具 Z^%HD B9^
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图层矩阵解算器 L. S/M v
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Cz, XYV
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分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 92N `Q}
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 hvA|d=R(
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 _?K,Jc8j.
本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 rZ.z!10
这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 s heCwhV dl`{:ZR S 更多的信息： N] pw7S% Sw? EF8}[ 总结-组件 :2XX~|
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 i' 1 MZ%. -3m!970 两条光谱线的可视化 vTWm_ed+^ A ^zd:h-
 ZqjLZ9?q 精细vs.涂层反射率 m,}GP^<1i
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 ?N@[R];
`}FZ;q3DP
精细度vs.涂层反射率 R:f ,g2
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内部谐振增强 ep*8*GmP ,e
GF~ 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Lzcea+*uw 请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 \6ais K
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注意: 传输值取自艾里图案的中心 c'5ls7?}O{
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VirtualLab Fusion技术 PY&mLux%
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文件信息 6fC Hd10!
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