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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 SNEhP5!  
    )W@u g,y  
                               t2&kGf"  
    0V%c%]PH  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。  >DL  
    B6XO&I1c  
    建模任务     FU|brS t  
    w+o5iPLX  
    =;Id["+  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 (1/Sf&2i  
    M 8^ID #  
     3 qYGEhxv  
    "EW8ll7r  
    图层矩阵解算器 ~W'DEpq_  
     %zavSm"  
     $+gQnI3w  
    s8j |>R|k  
    `At.$3B  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 n}p G&&;q  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 C*`WMP*  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。  yCX5 5:  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 p l)":}/)  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     g/?Vl2W  
    %V_ XY+o  
    更多的信息： y@LImiRG  
    |jsI-?%8J  
    总结-组件 gqaM<!]  
    >OG189O  
    0J R/V68$  
     2j\_svw'  
    <J%qzt}  
    两条光谱线的可视化 1=VyD<dNG6  
    /%$Zm^8c  
     Khq\@`RaT  
    精细vs.涂层反射率 s|YH_1r  
    qLR;:$]Q&8  
    x0 7 =  
    M-WSdG[AJ  
    精细度vs.涂层反射率 O7.V>7Y9H  
    Z'o0::k  
    7:`XE&Z  
    内部谐振增强     So5/n7  
    %$BRQ-O  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 H`[FC|RYyE  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 I=`?4%  
    8lQ/cGAc  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 LpHGt]|D  
    IRW0.'Dn  
    VirtualLab Fusion技术 }gSoBu  
    Q0*E&;|  
    g%2G=gR$?z  
    文件信息 &oL"AJU  
    y"?`MzcJ0  
     G<Z}G8FW^  
     hV3]1E21"  
     
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