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摘要 0uU%jN$ 4Ro(r
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f/;\/Q[Z7 R|+R4' Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 D?\K~U* > EJWMr`zdn 建模任务 6eDIS|/ fr#lH3
-;P<Q`{I 具有高反射(HR)涂层的标准具 {sm={q M+hc,;6
oLr"8R\d>t |}M']Vz 图层矩阵解算器 M@'V4oUz \aZ(@eF@@Q
xD\Km>|i @5?T]V g rIb[gm)Rk 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ;2@sn+@ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 @i{JqHU" 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 9)l_(*F 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 .@6]_h; 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 MW`a>'0t? }qD.Ek 更多的信息: ]R4)FH|>< /2@%:b) 总结-组件 amBz75N{ #h3+T*5} 6
3-mw-;.
b(SV_.4,' b<F 4_WF 两条光谱线的可视化 Pm1
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0 /M3D[aR<d
Rm*}<JN31 精细vs.涂层反射率 D+SpSO7yg i`>X5Da5
YjX=@ EkL\~^ 精细度vs.涂层反射率 6gKOpa i52R,hz
s^oNQ} 内部谐振增强 r/4]b]n %b{!9-n} 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 *.*:(7` 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 'QS"4EvdD
vv0zUvmT 注意: 传输值取自艾里图案的中心 WvJ?e =P#!>*\ar VirtualLab Fusion技术 g\-3c=X p&4n3%(R@
Nb#7&_f= 文件信息 `e9uSF:9C bvgD;:Aj
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