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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 #Cs/.(<  
    J#@+1 Nt  
                               k??CXW  
    d<OdQvW.  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 1l^[%0  
    94 6r#`q  
    建模任务     jYAm}_?No  
    jb/C\2U4)  
    oo]P}ra  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 mhU=^/X  
    ;IPk+,hpmi  
     .@;5"  
    T&S=/cRBK}  
    图层矩阵解算器 6f#Mi+"  
    vzSjfv  
     PW"?* ~&  
    &l-d_dh  
    "#8^":,4  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 8?<J,zu@AV  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ]1GyEr:  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 69ycP(  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ^a3 (QKS  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     rWO#h{  
    >N`, 3;Z  
    更多的信息： FoYs<aER  
    $'!n4}$}  
    总结-组件 ~tW<]l7  
    ^l ;Bo3^_  
    I-J%yutB  
     &DtI+ )[|  
    _E-{*,7bZS  
    两条光谱线的可视化 gLo&~|=L-  
    }7fzEo`g  
     r}|)oG,=  
    精细vs.涂层反射率 W S9:*YH  
    Q>w)b]d~c  
    ,@N.v?p>  
    Zcc7 7dRA  
    精细度vs.涂层反射率 XWz~*@ci  
    /d }5R@Oy  
    I%j]pY4  
    内部谐振增强     qM^y@B2MO  
    Bz:Hp{7&  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 _m#TL60m  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 *z~J ]  
    <A\g*ld  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 n*|8 (fD  
    0U.Ld:  
    VirtualLab Fusion技术 [P)](8nR[  
    eIP k$j{e  
    NLgeBLB  
    文件信息 xw1,Wbu]  
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      NY[48H  
     .Z17X_  
     
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