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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 Y=3X9%v9g  
    Pf{`/UlD  
                               % <^[j^j}o  
    Tt`L(oF  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 fWd~-U0M^  
    ;FcExg|k  
    建模任务     8znj~7}#  
    0n\^$WY  
    #jhQBb4?,  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 v;Swo("  
    8g.AT@ ,Q  
     ZU)BJ!L,s  
    >6XDX=JVI  
    图层矩阵解算器 FT<H ]Nf  
    W0C{~|e  
     k?o^5@b/  
    B'<!k7Ewy  
    )\D2\1e(c  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 DgC3 > yL  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 yLjV[ qP  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Y+!Ouc!$  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 k\nH&nb  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     kV_#9z7%  
    Z+r%_|kZ  
    更多的信息： _yiR h:  
    ;gEp!R8  
    总结-组件 t'dHCp}  
    +{5JDyh0  
    '`9%'f)  
     1NuR/DO  
    Hde]DK,d  
    两条光谱线的可视化 ;I[ht  
    u)tHOV>&  
     tCuN?_ UG  
    精细vs.涂层反射率 2T//%ys=  
    f#'8"ff*1  
    gTqeJWX9wP  
    Jq=00fcT+  
    精细度vs.涂层反射率 g@<sU0B  
    gCg4;b6g  
    Y0@'za^y  
    内部谐振增强     c9\B[@-q  
    8$2l^  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 $dlnmNP+  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 5dg-d\ 6S  
    /!^L69um  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 )w Z49>Y  
    oP+kAV#]  
    VirtualLab Fusion技术 N8,EI^W8Z  
    nu;} S!J  
    ->#y(}  
    文件信息 [SCw<<l<  
    hZp=BM"bJ  
     'q{PtYr  
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