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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 =>:% n  
    D2TXOPH  
                               C*{15!d:G  
    t)oES>W1  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 \9>g;qPg}  
    yA !3XUi  
    建模任务     0K$WSGB?6j  
    ]O[+c*|w  
    U= c5zrs  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Nn,vdu{^2  
    lk*0c {_L  
     8V=HyF#  
    S& ,Ju%  
    图层矩阵解算器 Gh$y#0qr  
    Y uw E 0  
     (!_X:+0_  
    }P&1s,S8J#  
    ,NaV [ "9$  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 4 [5lX C  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 M5T=Fj86  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Imh2~rw;  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 }j5R@I6P  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     9LqMQv"xW  
    OUlxeo/  
    更多的信息： d6t)gG*5  
    I5TQ>WJbf  
    总结-组件 rSF;Lp)}  
    7E!";HT  
    x%IXwP0  
     'FPcAW^8  
    -+ ]T77r  
    两条光谱线的可视化 }{#;;5KrB  
    v|4STR  
     ~>N`<S   
    精细vs.涂层反射率 wL8bs- U  
    b[{m>Fa+o#  
    z^ aCQ3E  
    .KiPNTh'  
    精细度vs.涂层反射率 R (tiIo  
    r/N[7 *i  
    SQdz EF  
    内部谐振增强     wc6 E- rB  
    7~!I2DV_  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 @MN}^umx`  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 KA|&Q<<{@  
    ~4MtDf  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 2p$n*|T&c  
    %Lh-aP{[e  
    VirtualLab Fusion技术 m6bWmGn GC  
    3JlC/v#0  
    vKU]80T  
    文件信息 S\! a"0$  
    LCo1{wi  
     di]$dl|Wi  
     8~&F/C*  
     
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