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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 Q')0 T>F-  
    vX9B^W||x  
                               eD#R4  
    z~Ec*  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 iC$mb~G  
    }mhD2'E  
    建模任务     BGe&c,feIc  
    `S&$y4|Vs  
    Za5bx,^  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 CH`_4UAX%  
    xs'vd:l.Pp  
     \W;+@w|c  
    MO1t 0Myc  
    图层矩阵解算器 7aV(tMzd  
    BLno/JK0}  
     .b3c n  
    e>GX]tK  
    dx<KZR$!V  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 )q+Qtz6D  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 SL j2/B0  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。  Z>O2  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 5os(.   
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     `.0WK  
    SccaX P  
    更多的信息： xe=/T# %  
    b }^ylm  
    总结-组件 @@])B#  
    vz~QR i*  
    cyQ&w>'  
     <8'-azpJ6<  
    u4W2 {  
    两条光谱线的可视化 ;q3"XLV(T[  
    2G(RQ\Ro*  
     KA"D2j9wn  
    精细vs.涂层反射率 03{pxI  
    +O2z&a;q  
    |3h-F5V)  
    q@"0(Oj  
    精细度vs.涂层反射率 'f?=ks<  
    | M|5Nc>W  
    &' 0|U{|  
    内部谐振增强     =/|2f; Q  
    nO{m2&r+  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ;(Xig$k  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 X=W.{?  
    +ROwk  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 AwC"c '  
    Q#Vg5H4  
    VirtualLab Fusion技术 q#mw#Uw-  
    HZ+l){u  
    Y[8GoqE|  
    文件信息 9A-=T>|of  
    Q)$RE{*-  
     "E6*.EtTN#  
     da,Bnze0  
     
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