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摘要 FRajo~H
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 M nZljB fQ~TZ:UrU Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 09 trFj$L
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建模任务 _hJdC|/ ,|3_@tUl
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具有高反射(HR)涂层的标准具 Jwfb%Xge~
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图层矩阵解算器 B@NBN&Fr
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分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Ez"*', (
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 gzn:]Y^
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 LU+SuVm
本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Z S wuEX
这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 =}kISh O39 更多的信息： ?upd sve} e nt 总结-组件 LAo$AiTUR{
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HWD.u 两条光谱线的可视化 Xwdcy J! ]Idwy|eG
 ybqmPT'|_ 精细vs.涂层反射率 k}qQG}hB
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精细度vs.涂层反射率 &9)/"
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内部谐振增强 >6jal?4u- q[W6I9 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 @vyEN.K%mm 请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 =pi,]m
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注意: 传输值取自艾里图案的中心 ^h2+ ""
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