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    [培训]光·学堂|基于 VirtualLab Fusion 的光学检测与精密成像(光学检测、精 密成像、显微镜系统) [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 04-30
    _'Q}Y nEv  
    时间地点 <acAc2  
    主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:讯技光电 INFOTEK) BZsw(l4/0'  
    苏州黉论教育咨询有限公司(微信公众号:honglun-seminary) b/]C, P  
    授课时间:2026 年 5 月 21 日(四)-5 月 22 日(五)AM 9:00-PM 16:00 +98~OInySZ  
    课程时长:2 天 8Md*9E#J("  
    授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 sl%B-;@I  
    课程讲师:讯技光电工程团队 dW!T.S  
    课程费用:4800RMB/1人次(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费) l4u`R(!n5  
    课程简介: @8 @cpm  
    本课程聚焦于利用 VirtualLab Fusion 先进的光之数字模型平台,解决光学检测与精密成像 Q=~e|  
    系统的核心设计挑战。课程将系统进解如何对干涉仪、光谱仪等光学检测系统进行高精度建 vK#xA+W  
    模与性能评估:深入探讨精密成像系统(如晶圆检测、高 NA 镜头)的像质优化;并专门涵盖显微 W ;IvR   
    镜系统(包括荧光、共聚焦及超分辨显微技术)的完整物理光学仿真,以研究行射极限、三维成 1h]Dc(Oc#=  
    像特性及荧光处理等关键问题。通过结合理论讲解与软件实战,学员将掌握从宏观检测到微 ? _[gs/i}  
    观成像的一体化软件开发能力。 [ OMcSd|nf  
    课程大纲: sBF}j.b  
    1. VirtualLab Fusion 光之数字模型平台 V# w$|B\  
    ⚫ ~oT0h[<  
    光之数字模型平台在精密系统检测方面的工作原理 *BBP"_$  
    ⚫ y"!+Fus9  
    VirtualLab Fusion 用户界面的基础操作 MsX`TOyO!  
    ⚫ u-j$4\'  
    VirtualLab Fusion 中非序列追迹的通道配置 L !yl^c  
    2. 典型光学检测系统建模与性能验证 j4H,*fc  
    ⚫ 62%. ddM4  
    基础迈克尔逊干涉仪建模仿真 ~b8U#'KD  
    ⚫ <JYV G9s}  
    OCT 系统仿真-光学相干层析扫描干涉仪 q(!191@C(  
    ⚫ $CHr i|  
    用于光学表面测量的菲索干涉仪 lh~!cOm\=E  
    ⚫ 2}I1z_dq~  
    切尔尼-特纳光谱仪的仿真 5x4JDaG2  
    ⚫ $+S'Boo   
    Mirau 干涉仪系统分析-显微干涉检测 Aq QArSu,  
    3. 高端精密成像系统(半导体 / 工业检测方向) 3boINmX  
    ⚫ z9&$Xao  
    半导体晶圆微结构缺陷检测光学系统 tQz-tQg  
    ⚫ hXbb+j  
    晶圆两侧光栅图案的成像 `<y2l94tL  
    ⚫ *'PG@S  
    激光共聚焦扫描显微镜成像分析 mWUQF"q8  
    ⚫ IR(JBB|xNQ  
    大数值孔径聚焦中的粒子散射与反射 `IkWS7|  
    ⚫ 1/6G&RB  
    晶圆多层膜厚非接触式光学测量仿真 q%Obrk  
    4. 先进显微镜系统的物理光学级仿真 gAgzM?A1(  
    ⚫ 8WZM}3x$f{  
    显微镜系统的设计 o}7`SYn  
    ⚫ >UZfi u  
    通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究 V8`t7[r  
    ⚫ <.s[x~b\`  
    荧光显微镜的彩色效应分析 ^l7u^j  
    ⚫ HeNg<5v%Y  
    高 NA 傅里叶显微镜单分子成像 B Lw ssr.  
    ⚫ ,>`wz^z  
    高 NA 显微镜系统分析偶极子源的 PSF { >bw:^F  
    ⚫ K\5@yqy5  
    显微镜系统中来自光圈的衍射 dilRL,  
    5. 光学系统的公差分析 6i(nyA 2!  
    ⚫ %W+*)u72(  
    考虑加工公差下的倾斜光栅鲁棒性优化 j1Q G-Rs&  
    ⚫ bh3}[O,L A  
    镜头粗糙度对 PSF 的影响 q *mNVBy  
    ⚫ #fRhG^QKp  
    衍射光学元件的加工圆角和高度公差分析 +0;6.PK  
    I|n<B"Q6^  
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