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摘要 VGc*aQYa {&n- @$?
j~k,d.17M Nn[*ox#i 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ks0Q+YW +d6onO{8 任务说明 BA c+T %]_: \!
[t?tLUg|6 o~~;I 多重光源 gB'ajX=OA/ !0,q[|m ~a([e\~ [7I bT:ph 螺旋相位板 e,xL~P{| ~#sD2b`0
=HCEUB9Fs v0\l~_|H 探测器插件 2R&\qZ< ']1n?K=A
r%.k,FzGZY r@4A%ql< 参数运行 2t\0vV2)/O &>zH.6%$
sG`x |%t \jiE:Qt 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: OT
0c5x G4@r_VP \ Usage of the Parameter Run Document Z\nDR|3 5bLNQz\WJ 非时序建模 7[1Lh'u #dZs[R7h
mXRkR.zu+ L
BbST! 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ZM.'W}J{* =-2~>B Channel Setting for Non-Sequential Tracing OIP]9lM$nC 3(WijtH 总结 – 组件… ?@rd,:'dE <+k&8^:bi
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}p~2lOI 7 9tE 系统观感 w5%Yi{ D~C'1C&W
`dZ|Ko%k [|Qzx w9 aFTWzz 发射&损耗激光 x"b'Pmw VRd7H.f,A6
MKBDWLCB A8m06 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 UY(T>4H+h \qG?'Iy 8&2+=<Q~ 3D STED 轮廓 pkn^K+<n, Cy;UyZ
c]^P$F8U 9+@h2"|N4* 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 T-] {gc Tc^
0W=h 受激发射损耗效应 n\ "6ol}>E cw<IL 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 27SHj9I Ev7.!
F rckA (tg.]q_=u VirtualLab Fusion 技术 tpJA~!mG3 Jq/itsg
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