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摘要 C&oxi$J:p+ "?+UI 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 C &FN#B A ')(SGSc
gpsrw>nw ~q5-9{ma 建模任务 J;"nm3[.q .yG8B:7N2 O{*GW0}55 概述 d)9PEtI ~|qXtds$ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 zo87^y5?G •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Hc"N&
%X[ UzN8G$92qF
DZF[dxH AwA1&mh 光线追迹仿真 vN'VDvVM ,%.:g65% •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ;q'DGzh •单击go! .;cxhgU •获得了3D光线追迹结果。 EOofa6f&l r$Yh)rpt:
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%L{ 光线追迹仿真 aKaR k`{RXx •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 o8iig5bp •单击go! MP_A<F •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 70d] d+M| {_?T:`
5F% h>tqh dw'<" +zO 场追迹仿真 5~v(AB(x s0_-1VU •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 O-y6!u$6& •单击go! hw EZj`9 &?}kL=
h NKupOJJq LuQ"E4;nY% 场追迹仿真(相机探测器) \ 9[NH/.Z{ -[i40
1 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 p} t{8j> •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 '-$))AdD -lJx%9>
!N@S^JD6 R4z<Xf:! 场追迹仿真(电磁场探测器) Z%, \+tRe •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 JL}hOBqfI ;:#?~%7> z v L>(R f}Ne8]U/Hc 场追迹仿真(电磁场探测器) BK`Q)[ I?^Q084 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 !mpMa]G3 ^g}gT-l%
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