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摘要 W v!%'IB 96S#Q*6+R 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 9g`o+U{ 4Yya+[RY
5X,|Pn rl](0"Y0
t 建模任务 p`06%"# Bh<6J&<n y` 6!Vj l 概述 F>s5<pKAX jq12,R2+) •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 v<tr1cUT •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 J'Y;j^ O
p,_d^
pt=H?{06 ^s?=$&8f![ 光线追迹仿真 .V`N^H:l XMw*4j2E •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 wj<fi •单击go! fy|$A@f
•获得了3D光线追迹结果。 Iju9#b6 swLrp
74
yw+LT,AQ. q=`i 光线追迹仿真 8t
>nL k?;B1D8-n •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 B
42t •单击go! %,Lv},%Y •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ^n&_JQIXb 5v,_ Hgh
6>&h9@ ~X!Z+Vg 场追迹仿真 r: M>/Z/ S>V+IKW;( •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 cZlDdr% •单击go! XsbYWJdds 0<#>LWaM_ T1=T dh
S7}n 场追迹仿真(相机探测器) ^c| _%/ N|\Q:<!2_w •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 5)iOG#8qJ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 omzG/)M:O 2R];Pv
h1 pEC _kXq0~ 场追迹仿真(电磁场探测器) '|^x[8^ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 zy(NJ &OsO _F +FJ+,|i VDTt}J 8 场追迹仿真(电磁场探测器) @A'@%Zv- Lv
UQ&NmY •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 #gsJ
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