切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 348阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7056
    光币
    29425
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-11-19
    摘要 (l9jczi  
    Z_<NUPE  
    YC<FKWc  
    `ZO5-E  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ="f-I9y  
    2 e#"JZ=  
    建模任务 SG&H^V8  
    G`&P|xYg  
    oHp"\Z&  
    Ux{QYjF E  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 RBg2iG$ 8|  
    7;C~>WlU  
    =CS$c?  
    KL9JA; "  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 )56L`5#tS  
    WE_'u+!B  
    W<[7LdAB  
     
    分享到