切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学设计仿真实验指导 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) ZEMAX光学系统设计实战
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 138阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6569
    光币
    26994
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-11-19
    摘要 >Yfo $S_  
    O9Yk5b;  
     @fd{5 >\  
    (Jk:Qz5  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 /7C %m:  
     EZ^M?awB4  
    建模任务 e3kdIOu5  
    w4Ku1G#jC  
     OoR0>!x Z  
    AI2>{V  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 dZ\T@9+j+  
    IFWP&20  
     Xj21:IMR  
    b!g8NG  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ="]y^&(L(  
    :N>s#{+"3  
     a4N8zDS  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表