切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 121阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6511
    光币
    26700
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-11-19
    摘要 GRGzP&}@  
    kV?y0J.  
    4?0vso*X<:  
    E8>Ru i@9  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 .9R [ *<  
    zEs>b(5u  
    建模任务 I*LknU@  
    Tg!i%v(-t  
    KQacoUHrK?  
    km)zMoE{c{  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 T^:UBjK6t{  
    8*8Zc/{  
    Dpvk\t  
    GMMp|WV|  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 A~Y^VEn  
    D<|qaHB=  
    JXCCTUO  
     
    分享到