切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 350阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7056
    光币
    29425
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-11-19
    摘要 |= xK-;qs  
    Q\!0V@$  
    ME9jN{ le  
    ]jkaOj  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 9=-d/y?  
    4a]$4LQV  
    建模任务 [|:kS  
    Lwy9QZL  
    XSw!_d  
    nc0!ag  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 jRhOo% p  
    0Ud.u  
    (F wWyt  
    ['G@`e*\  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 P:p@Iep  
    O6P{+xj$  
    |z5`h  
     
    分享到