切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 136阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6569
    光币
    26994
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-11-19
    摘要 }g[Hi`  
    ~bis!(}p-  
    Zjs,R{  
    `wSoa#U"@  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 nFro#qx  
    >,rzPc)  
    建模任务 rxZk!- t)L  
    gLx?0eBBA  
    QX_![|=  
    6vzvH  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 ^{NN-  
    WMFn#.aY5  
    =w:H9uj6F  
    Svs&?B\}{6  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 `];ne]xM  
    Cq-99@&;  
    $lJ!f  
     
    分享到