切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 428阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7172
    光币
    30001
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-11-19
    摘要 *e#<n_%R  
    SP]IUdE\  
    }!>=|1 fY  
    IJIzXU  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 [&?8,Q(  
    6t'l(E +  
    建模任务 2[fN\e{  
     j2l55@  
    4Kwh?8.  
    $,>@o=)_  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 +;}#B~:  
    YW \0k5[  
    $_H`   
    <#GB[kQa  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ._9 n~=!  
    YC_5YY(k  
    aVL=K  
     
    分享到