切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 266阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6922
    光币
    28760
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-11-19
    摘要 .'.#bH9K  
    2K0HN  
    uQIa"u7  
    (,z0V+ !  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 z~i=\/~tZ  
    -!zyit5B  
    建模任务 -HutEbkjx  
    $iu{u|VSu  
    w 4-E@>%  
    )4q0(O)d  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 5Arx"=c  
    vN'Y);$  
    >G(M&  
    aZ"9)RJe  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 MhaN+N  
    _1 TSt%L  
    Xk8+  
     
    分享到