1.OptiLayer 软件包括三个模块，它们共用一个数据 库，能够轻松的实现数据交换： hd2 X/"
• OptiLayer：设计，评估，预生产误差分析， 生产过程监控及实现计算制造； 5Go&+|c vJ
• OptiChar：基于分光光度计及椭偏仪检测数 据，分析膜层光学特性； kMHupROj
• OptiRE：基于检测数据，对已镀制膜层反演 分析计算。 dik+BBu5z
2.OptiLayer 采用了最新的软件设计理念，其独树一帜的核心算法具有极高的专业水准： t-$R)vZ}M
• OptiLayer 可在计算机上流畅的运行； -/.Xf<y5 8
• OptiLayer 具有良好的用户界面，易于使用； R;_U BQ)
• 程序安装简便，安装过程只需数分钟； lnFOD+ y9
• OptiLayer 带有上下文关联的帮助系统以及高阶用户手册； lFNf/j^Z
• 安装包含有一系列设计实例，它能够快速的让用户掌握 OptiLayer 的设计理念； *8uSy/l
• 安装包包含基底及膜层材料目录。 XACbDKyS
OptiLayer 计算制造选项能够评估预期的生产率，并且揭示了哪些膜层对成功的生产比较关键，需要严格控制。 xPY/J#X$
在计算制造试验过程中，可以仿真那些由于沉积工艺造成的典型误差因素。这些因素包括： bV#U&)|
• 不稳定的沉积速率， o[bG(qHZ
• 在膜层沉积收尾阶段产生的随机和系统误差（闸门延迟） e%'$Vx0kA
• 膜层在沉积仓内的折射率和理论值的偏差 D/w 4u;E@
• 与波长相关的折射率偏差 yVyh'd:Ik
• 沉积层的不均匀性 "bRg_]\q6
• 在线测量的噪声影响 /]Fs3uf
• 监控信号的实时波动， U3 +{!}gn
• 监控设备的校准偏差。 DG x9 \8^
需要可联系交流。 9K@>{69WQ
$Gs&'
y R
D@yg )$;z
