1.OptiLayer 软件包括三个模块，它们共用一个数据 库，能够轻松的实现数据交换： ,Wtod|vx\U
• OptiLayer：设计，评估，预生产误差分析， 生产过程监控及实现计算制造； M haN+N
• OptiChar：基于分光光度计及椭偏仪检测数 据，分析膜层光学特性； 1#9qP~#]'{
• OptiRE：基于检测数据，对已镀制膜层反演 分析计算。 yU`"]6(@[
2.OptiLayer 采用了最新的软件设计理念，其独树一帜的核心算法具有极高的专业水准： x =7hOI5u
• OptiLayer 可在计算机上流畅的运行； -b'93_ZTu:
• OptiLayer 具有良好的用户界面，易于使用； |wW_ Z!fL
• 程序安装简便，安装过程只需数分钟； 6P@3UQ)} s
• OptiLayer 带有上下文关联的帮助系统以及高阶用户手册； UlF=,0P
• 安装包含有一系列设计实例，它能够快速的让用户掌握 OptiLayer 的设计理念； i]oSVXx4WC
• 安装包包含基底及膜层材料目录。 WtlPgT;wE
OptiLayer 计算制造选项能够评估预期的生产率，并且揭示了哪些膜层对成功的生产比较关键，需要严格控制。 1<g,1TR
在计算制造试验过程中，可以仿真那些由于沉积工艺造成的典型误差因素。这些因素包括： o0t/
• 不稳定的沉积速率， OT/*|Pn9
• 在膜层沉积收尾阶段产生的随机和系统误差（闸门延迟） 46^LPC"x
• 膜层在沉积仓内的折射率和理论值的偏差 lt%bGjk
• 与波长相关的折射率偏差 zOO:`^ m
• 沉积层的不均匀性 fS2 ^$" B|
• 在线测量的噪声影响 $#E? `At{I
• 监控信号的实时波动， $!F_K
• 监控设备的校准偏差。 5[NF
需要可联系交流。 $$QbcnOf$
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