1.OptiLayer 软件包括三个模块，它们共用一个数据 库，能够轻松的实现数据交换： r K;F]ei
• OptiLayer：设计，评估，预生产误差分析， 生产过程监控及实现计算制造； 7E*d>:5I
• OptiChar：基于分光光度计及椭偏仪检测数 据，分析膜层光学特性； e| Rd#
• OptiRE：基于检测数据，对已镀制膜层反演 分析计算。 R # .FfWTZ
2.OptiLayer 采用了最新的软件设计理念，其独树一帜的核心算法具有极高的专业水准： qn}4P Vn4
• OptiLayer 可在计算机上流畅的运行； \R#]}g0!
• OptiLayer 具有良好的用户界面，易于使用； Lt $LXE
• 程序安装简便，安装过程只需数分钟； '!>LF 1W=
• OptiLayer 带有上下文关联的帮助系统以及高阶用户手册； n@<+D`[ .V
• 安装包含有一系列设计实例，它能够快速的让用户掌握 OptiLayer 的设计理念； AC;ja$A#
• 安装包包含基底及膜层材料目录。 J8>y2rAi
OptiLayer 计算制造选项能够评估预期的生产率，并且揭示了哪些膜层对成功的生产比较关键，需要严格控制。 4 , "%
在计算制造试验过程中，可以仿真那些由于沉积工艺造成的典型误差因素。这些因素包括： 3e+ Ih 2
• 不稳定的沉积速率， 7SO i9JU_
• 在膜层沉积收尾阶段产生的随机和系统误差（闸门延迟） ^vPM\qP#g
• 膜层在沉积仓内的折射率和理论值的偏差 jHBzZ!<
• 与波长相关的折射率偏差 {gT2G*Ed^Z
• 沉积层的不均匀性 ?s /]k#H
• 在线测量的噪声影响 %;$zR}
• 监控信号的实时波动， ,) ^4H>~V
• 监控设备的校准偏差。 gM~ dPM|
需要可联系交流。 4jMC E&<
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MA1.I4dm
