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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 tluyx  
     h{sY5d'D  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 I'NE>!=Q  
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    1. 案例 nOd'$q  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 \"r*wae  
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    1. 系统构建模块 N!`8-ap\^  
    ;8G( l   
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    2. 组件连接器 0F\ e*{gc  
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    几何光学仿真 ~4Gs\U:!Q  
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    以光线追迹 /cy'% .!  
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    1. 结果：光线追迹 B~0L'8WzW  
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          n>w/T"  
    快速物理光学仿真 ;gh#8JkI  
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    以场追迹 .=VtMi$n  
     .3B3Z&vr  
    1. NA=1.4时的光栅成像 bHr2LhQCN  
    S[b)`Wi D  
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    Qr/8kWa0 C  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 V0gk8wD  
       Dm=Em-ST6  
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    &?@gUk74"  
    3. NA=0.5时的光栅成像 ,6zH;fi  
       2>.2H  
    RsYn6ozb  
     
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