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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 09-10
    摘要 (!efaj  
     j, *= D6  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 j0Cj&x%qF}  
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    1. 案例 OTAe#]#  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 5eyB\>k,  
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    1. 系统构建模块 `PI*\t0  
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    2. 组件连接器 35x]'  
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    几何光学仿真 nz#eJ  
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    以光线追迹 ?1O` Rd{tn  
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    1. 结果：光线追迹 ^ uwth  
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    快速物理光学仿真 ?<\2}1  
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    以场追迹 E'6/@xM  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 bR:hu}YS  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 5DkEJk7a  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 hd(TKFL^y  
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