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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 Kmk}Yz  
     l7{]jKJue  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 "hE/f~\  
    @k< e]@r  
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     JPo.&5k  
    1. 案例 rwZI;t$hf  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 [ H~Yg2O  
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    1. 系统构建模块 $q"/q*ys  
    Lg;b17  
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    2. 组件连接器 jb~W(8cj  
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          For`rfR  
    几何光学仿真 d65fkz==A)  
     xH,D bAC;  
    以光线追迹 YsX&]4vzm  
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    1. 结果：光线追迹 Fi7G S;  
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    快速物理光学仿真  +*W9*gl  
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    以场追迹 miWPLnw=L  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 d9j+==S <  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 "7> o"FQ  
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    k$ ya.b<X/  
    P#0U[`ltK  
    3. NA=0.5时的光栅成像 {r.KY  
       nV[0O8p2Md  
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