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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 4*P#3 B'@V  
      l|j  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 :[kfWai#(  
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    1. 案例 e ^2n58  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 TkBHlTa"=  
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    1. 系统构建模块 3K!(/,`  
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     N:x--,2  
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    2. 组件连接器 _wH>h$E  
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    几何光学仿真 n+MWny  
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    以光线追迹 oq${}n<  
     `,QcOkvbC  
    1. 结果：光线追迹 KW-GVe%8f  
    & OYo  
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          }C4wED.  
    快速物理光学仿真 U}@xMt8@l  
     ;`Nh@*_  
    以场追迹 iR?}^|]  
     2Pow-o*r  
    1. NA=1.4时的光栅成像 G?kK:eV  
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    (Zg'])  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 L"bZ~'y  
       b:Z&;A|"{  
    NNt  n  
    qG@YNc  
    3. NA=0.5时的光栅成像 m ww<Xm'  
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