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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 Di{T3~fqU  
     | ZBv;BW  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 F[/Bp>P7  
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    1. 案例 5_";EED  
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      <(x[Qp/5P  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 zp[Uh]-dMK  
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    1. 系统构建模块 \IY)2C<e  
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    2. 组件连接器 d K|6p_  
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    几何光学仿真 prE~GO7Z  
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    以光线追迹 8v)pPJr  
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    1. 结果：光线追迹 NYtp&[s2-  
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          =fa!"$J3  
    快速物理光学仿真 -;=0dfC(  
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    以场追迹 (UWP=L1  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 :9H=D^J  
    HN,E+ dQ  
     xZAc~~9tD  
    K(RG:e~R0i  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 [*zB vj}G  
       A-<\?13uW  
    v-2_#  
    >0kn&pe7#T  
    3. NA=0.5时的光栅成像 +')\,m "z  
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    TJ9JIxnS  
     
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