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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 Kc6p||<  
     (5^bU<  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 y?ps+ce93  
    lw.4O^  
    [<HU ~PP  
     x >u \  
    1. 案例 ~f.fg@v`+v  
    #B;~i6h]  
     X&B2&e;  
      "kLu]M<  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 Ft7{P.g  
     6' 9ITA  
    1. 系统构建模块 F__(iXxC  
    Fq]ht*  
     8{m5P8w'  
    d)G' y  
    2. 组件连接器 '7+e!>"  
    H`js1b1n  
    /M:R|91:_  
          EJdl%j  
    几何光学仿真 0Zt=1Tv  
     5hVp2 w-  
    以光线追迹 .RI{\i`  
     &rTOJ 1)V}  
    1. 结果：光线追迹 b(hnouS  
    H5L~[\ 5t  
    ^ -s'Ad3  
          [k"@n+%  
    快速物理光学仿真 8Z=d+}Gg<  
     fM[Qn*.  
    以场追迹 ~1x,m.f8  
     +=XDNSw  
    1. NA=1.4时的光栅成像 ZT UaF4k j  
    ^)r^k8y'  
     uQ^r1 $#  
    9#:b+Amzz  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 Q(P'4XCm  
       24ojjxz+  
    K$S:V=y%r7  
    C'HW`rh.^  
    3. NA=0.5时的光栅成像 d)'am 3Q  
       n*tT <  
    V3<baxdE  
     
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