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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 zk++#rB  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 TC* 78;r  
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    1. 案例 <rn26Gfr  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 KD=W(\  
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    1. 系统构建模块 A. 5`+  
    P1_ZGeom*  
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    2. 组件连接器 s(0"r.  
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    几何光学仿真 Q<O(Ix  
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    以光线追迹 FoKAF &h7  
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    1. 结果：光线追迹 [bh8Nj\E  
    NpAZuISD!  
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          SL$ bV2T  
    快速物理光学仿真 lF#p1H>\  
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    以场追迹 G$oi>zt3  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 w!--K9  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 n\w2e_g;N  
       ;6655C  
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    3aUWQP2  
    3. NA=0.5时的光栅成像 jnIf (a  
       L/KiE+Y  
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