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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 E47U &xL  
     uLw$`ihw  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 D3LW 49  
    p7"o:YSQ  
    U20G{%%  
     JNzNK.E!m-  
    1. 案例 rurC! -  
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      =H_|007C  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 rNL*(PN}lO  
     X*2M Nx^K~  
    1. 系统构建模块 eZ]4,,m  
    $18|@\Znj  
     *pMgjr  
    tQy@d_a=y  
    2. 组件连接器 _5^p+  
    G[YbgG=9Y  
    Nb[z+V{=  
          p7Yej(B  
    几何光学仿真 a.a5qwG  
     <;d?E%`  
    以光线追迹 8v6YOG"b q  
     af]&3(33  
    1. 结果：光线追迹 &v+8RY^F=  
    R{~Yh.)~  
    xf8C$|,  
          Aw )='&;^z  
    快速物理光学仿真 =GpO }t">  
     ~n#rATbxf  
    以场追迹 |IqQ%;H  
     &L,zh{Mp  
    1. NA=1.4时的光栅成像 bz[+g,e2oA  
    tI&Z!fj  
     ~_P,z?  
    qlJP2Ig~  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 [X.sCl|  
       mnM#NT5]  
    317Lv \[  
    w!7f*  
    3. NA=0.5时的光栅成像 j_E$C.XU{g  
       8$3G c"=  
    9l?#ZuGXp  
     
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