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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 JXrMtSp\  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 HUH=Y;  
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    1. 案例 Ktoxl+I?  
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      R/=yS7@{)  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 Ad[-YT  
     w5p+Yx=q  
    1. 系统构建模块 /n_N`VJ7H  
    ] '..G-  
     o&zeOJW  
    )9s[-W,e  
    2. 组件连接器 k# /_Zd  
    ?o2L  
    EG,RlmcPp  
          ]`%cTdpLj  
    几何光学仿真 9kcAMk1K  
     &W1c#]q@r  
    以光线追迹 !^w+<p  
     @<_4Nb  
    1. 结果：光线追迹 3/iGSG`  
    q*>`HTPcU  
    uXXwMc<p  
          N7XRk= J  
    快速物理光学仿真 4q2aVm  
     BQsy)H`4E  
    以场追迹 YkTEAI|i  
     =KkHck33  
    1. NA=1.4时的光栅成像 >Py=H+d!j  
    {C [7V{4(%  
     7P=j2;7 v  
    pl5!Ih6  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 vNP,c]:%  
       koFY7;_<?  
    6:Ra3!V"v  
    VK8 5A  
    3. NA=0.5时的光栅成像 p tMysYT'  
       .-{B  
    {{j?3O//  
     
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