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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 09-10
    摘要 kFk+TXLDIt  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 2! wz#EC  
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    1. 案例 s 6hj[^O  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 SH}O?d\Q:  
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    1. 系统构建模块 )UJ]IB-Q|1  
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    2. 组件连接器 ~kN6Hr*X  
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    几何光学仿真 9U;) [R Mb  
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    以光线追迹 9Xm"kVqd/  
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    1. 结果：光线追迹 <w,aS;v6jp  
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    快速物理光学仿真 TUk1h\.q  
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    以场追迹 aMj3ov8p  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 Y@.:U*  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 TAGqRYgi  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 K, 35*  
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